GB/T 4937.1-2006
半導體器件 機械和氣候試驗方法 第1部分:總則
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 1: General
GBT4937.1-2006, GB4937.1-2006
- 標準號
- GB/T 4937.1-2006
- 別名
- GBT4937.1-2006, GB4937.1-2006
- 發布
- 2006年
- 采用標準
- IEC 60749-1:2002 IDT
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 4937.1-2006
- 引用標準
- IEC 60050 IEC 60747 IEC 60748
- 被代替標準
- GB/T 4937-1995
- 適用范圍
- 本部分適用于半導體器件（分立器件和集成電路）并為GB/T 4937系列的其他部分建立通用準則。 當本部分與相應的詳細規范有矛盾時，以詳細規范為準。
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