GB/T 4937-1995
半導體器件機械和氣候試驗方法
Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
GBT4937-1995, GB4937-1995
2007-02
- 標準號
- GB/T 4937-1995
- 別名
- GBT4937-1995, GB4937-1995
- 發布
- 1995年
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 替代標準
- GB/T 4937.1-2006
- GB/T 4937.2-2006
- 當前最新
- GB/T 4937.1-2006
- GB/T 4937.2-2006
- 適用范圍
- 本標準列出了適用于半導體器件（分立器件和集成電路）的試驗方法。使用時可從中進行選擇。對于非空腔器件，可以要求補充的試驗方法。 注：非空腔器件是指器件結構中封裝材料與管芯的所有暴露表面緊密接觸且沒有任何空間的器件。 本標準已盡可能考慮了IEC 68《基本環境試驗規程》。
GB/T 4937-1995相似標準
推薦
29個半導體國家標準即將實施，12月1日有12個國標開始實施！
國家標準《半導體器件 機械和氣候試驗方法 第31部分：塑封器件的易燃性（內部引起的）》 由TC78（全國半導體器件標準化技術委員會）歸口 ，主管部門為工業和信息化部（電子）。 ...
宏展儀器|一朝春醒 超長續航
宏展儀器是客戶可靠的試驗伙伴，客戶產業遍及于電子、半導體、光電、通訊、航天、機械、實驗室、汽車…等科技產業，歡迎前來咨詢。...
工信部505項行標和53項推薦性國標計劃項目征求意見
《半導體器件 機械和氣候試驗方法 第7部分：內部水汽含量測試和其它殘余氣體分析》等53項國家標準制修訂計劃（征求意見稿）.docx 3. 標準立項反饋意見表.doc 工業和信息化部科技司 2018年4月27日...