DS/EN 60749-11/Corr.2:2004
半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分：溫度快速變化 雙流體浴法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method

標準號

DS/EN 60749-11/Corr.2:2004

發布

2004年

發布單位

丹麥標準化協會

當前最新

DS/EN 60749-11/Corr.2:2004

 

 

適用范圍

IEC 60749的本部分定義了溫度快速變化測試方法和兩液浴方法。當兩種測試方法都作為設備鑒定的一部分進行時，空氣到空氣溫度循環的結果優先于這種雙流體浴測試方法。該測試方法還可以使用較少的循環（例如5至10個循環）來測試浸沒在用于清潔裝置的加熱液體中的效果。該測試適用于所有半導體器件。除非相關規范中另有詳細說明，否則它被認為是破壞性的。一般來說，這種快速改變溫度和雙液浴方法

專題

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