GB/T 4937.3-2012
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第3部分：外部目檢
Semiconductor devices.Mechanical and climatic tests methods.Part 3:External visual examination
GBT4937.3-2012, GB4937.3-2012
- 標準號
- GB/T 4937.3-2012
- 別名
- GBT4937.3-2012
GB4937.3-2012 - 發布
- 2012年
- 采用標準
- IEC 60749-3:2002 IDT
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 4937.3-2012
- GB/T 4937的本部分的目的是驗證半導體器件的材料、設計、結構、標志和工藝質量是否符合適用的采購文件的要求。外部目檢是非破壞性試驗，適用于所有的封裝類型。本試驗用于鑒定檢驗、過程監控、批接收。
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