IEC 60749-3:2002
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第3部分:外觀檢驗

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

被代替

非常抱歉，我們暫時無法提供預覽，您可以試試： 免費下載 IEC 60749-3:2002 前三頁，或者稍后再訪問。

您也可以嘗試購買此標準，
點擊右側 “立即購買” 按鈕開始采購（由第三方提供）。

標準號

IEC 60749-3:2002

發布

2002年

中文版

GB/T 4937.3-2012 (等同采用的中文版本)

發布單位

國際電工委員會

替代標準

IEC 60749-3:2002/COR1:2003

當前最新

IEC 60749-3:2017

 

 

被代替標準

IEC 47/1531A/CDV:2000 IEC 47/1596/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62163:2000

適用范圍

IEC 60749 這一部分的目的是驗證半導體器件的材料、設計、結構、標記和工藝是否符合適用的采購文件。外部目視檢查是一種非破壞性測試，適用于所有包裝類型。該測試對于鑒定、過程監控或批次驗收或兩者都有用。

IEC 60749-3:2002相似標準

推薦

誰引用了IEC 60749-3:2002 更多引用