貴金屬 電子顯微鏡
本專題涉及貴金屬 電子顯微鏡 的標準有94條。
國際標準分類中，貴金屬 電子顯微鏡 涉及到金融、銀行、貨幣體系、保險、光學和光學測量、光學設備、表面處理和鍍涂、長度和角度測量、建筑材料、有色金屬產品、有色金屬、分析化學、金屬材料試驗、詞匯、珠寶、計量學和測量綜合、空氣質量。
在中國標準分類中，貴金屬 電子顯微鏡 涉及到、電子光學與其他物理光學儀器、金屬化學分析方法綜合、材料防護、貴金屬及其合金、犯罪鑒定技術、基礎標準與通用方法、放大鏡與顯微鏡、金相檢驗方法、金屬力學性能試驗方法、教育、學位、學銜、電磁計量、計量綜合、技術管理。
行業標準-金融，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- JRT 0267-2023 貴金屬紀念幣 圖像比對 比較顯微鏡法
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- GB/T 34831-2017 納米技術 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環形暗場法
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
國家質檢總局，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- GB/T 34831-2017(英文版) 納米技術 貴金屬納米粒子的電子顯微鏡成像 高角度環形暗場成像方法
- GB/T 17472-2022 微電子技術用貴金屬漿料規范
- GB/T 17472-2008 微電子技術用貴金屬漿料規范
韓國科技標準局，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- KS D 8544-2006 金屬涂層.涂層厚度測量.透射電子顯微鏡法
- KS D 8544-2016(2021) 金屬涂層——涂層厚度測量——透射電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- KS D 8544-2021 金屬涂層 涂層厚度的測量 透射電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規則
SCC，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- DANSK DS/EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法 (ISO 9220:1988)
- NS-EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
GSO，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- OS GSO ISO 15932:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 15932:2015 微量分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- BH GSO ISO 15932:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- OS GSO ISO 8036:2015 光學和光子學 顯微鏡 光學顯微鏡用浸沒液體
- GSO ISO 8036:2015 光學和光子學 顯微鏡 用于光學顯微鏡的浸沒液
英國標準學會，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- 24/30479937 DC BS ISO 25498 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- BS ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式
法國標準化協會，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- NF ISO 15932:2014 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
國際標準化組織，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- ISO 8036:2006 光學和光子學.顯微鏡.光學顯微鏡浸液
- ISO 15932:2013 微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯
- ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
- ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 用透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
SE-SIS，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法
丹麥標準化協會，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
德國標準化學會，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法
- DIN EN ISO 9220:2021 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
歐洲標準化委員會，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法(ISO 9220-1988)
- prEN ISO 9220:2021 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
西班牙標準化協會，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- UNE-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡方法
- UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法 （ISO 9220:1988）
行業標準-機械，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- JB/T 5480-1991 電子顯微鏡用光闌
- JB/T 5481-1991 電子顯微鏡用燈絲
- JB/T 10077-1999 金相顯微鏡
- JB/T 5383-1991 透射電子顯微鏡技術條件
- JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
行業標準-公共安全標準，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- GA/T 1938-2021 法庭科學 金屬檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
日本工業標準調查會，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
立陶宛標準局，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- LST EN ISO 9220:2001 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）
DIN，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- DIN EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:2022）
IT-UNI，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- UNI 7604-1976 用復制品進行的金屬材料電子顯微鏡檢測．顯微照相檢測用復制品的準備
- UNI 7329-1974 使用復制品進行金屬材料的電子顯微鏡檢測．顯微結構檢測用復制品的準備
AT-ON，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- OENORM EN ISO 9220:2021 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
行業標準-航空，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- HB 5340-1989 航空用貴金屬及其合金顯微維氏硬度試驗方法
KR-KS，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
美國材料與試驗協會，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- ASTM B748-90(2006) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法
- ASTM B748-90(1997) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法
中國團體標準，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- T/SZS 4018-2020 貴金屬飾品硬度測試方法 顯微維氏硬度法
- T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準方法
行業標準-教育，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
國家計量技術規范，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規范
國家計量檢定規程，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規程
- JJG(地質) 1016-1990 透射電子顯微鏡檢定規程
- JJG(教委) 12-1992 透射電子顯微鏡檢定規程
臺灣地方標準，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- CNS 2910-2008 鋼內非金屬介在物之顯微鏡試驗法
BE-NBN，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- NBN EN ISO 9220:1995 金屬保護層．保護層厚度的測定：使用電子掃描顯微鏡（ISO 9220-1988）
RO-ASRO，關于貴金屬 電子顯微鏡 的標準
- STAS 5949-1980 鋼材中非金屬物質測定．顯微鏡方法
