x射線熒光鍍層測厚儀
本專題涉及x射線熒光鍍層測厚儀的標準有19條。
國際標準分類中，x射線熒光鍍層測厚儀涉及到分析化學、表面處理和鍍涂、長度和角度測量、核能工程、光學和光學測量。
在中國標準分類中，x射線熒光鍍層測厚儀涉及到Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、電容器、電化學、熱化學、光學式分析儀器、材料防護、勘探采礦和工藝監測核儀器、電子光學與其他物理光學儀器。
國家計量技術規范，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- JJF 1306-2011 X射線熒光鍍層測厚儀校準規范
ECIA - Electronic Components Industry Association，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- CB-13-1990 X 射線熒光測量鍍層厚度
美國電子元器件、組件及材料協會，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- ECA CB-13-1990 鍍層厚度測定的X射線熒光
行業標準-機械，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀
- JB/T 11145-2011 X射線熒光光譜儀
IN-BIS，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- IS 12860-1989 X射線熒光技術法測定金屬鍍層厚度
行業標準-電子，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- SJ 20147.1-1992 銀和銀合金鍍覆層厚度測量方法X射線熒光光譜法
法國標準化協會，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- NF A91-116*NF EN ISO 3497:2001 金屬鍍層.鍍層厚度的測定.X射線光譜法
- NF A91-116:1976 金屬鍍層.厚度的測量.用X射線光譜術
韓國科技標準局，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- KS D ISO 3497-2002(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量X射線光譜法
- KS D ISO 3497:2002 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法
德國標準化學會，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- DIN EN ISO 3497:2001 金屬鍍層.鍍層厚度測量.X射線光譜測定法
國際標準化組織，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- ISO 3497:1990 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法
- ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法
南非標準局，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- SANS 3497:1990 金屬鍍層．鍍層厚度的測定．X射線光譜測定法
- SANS 3497:2008 金屬鍍層.涂層厚度測量.X射線光譜法
行業標準-核工業，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- EJ/T 1100-1999 X射線熒光測井儀
IPC - Association Connecting Electronics Industries，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- IPC TM-650 2.3.44-2016 通過 X 射線熒光（XRF）光譜法測定化學鍍鎳（EN）層的厚度和磷含量
TR-TSE，關于x射線熒光鍍層測厚儀的標準
- TS 3181-1978 金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量．X射線光譜法
