X射線金屬鍍層測厚儀，X射線經過鍍層界面，根據理論上同材質無限厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難（信號分不開）。測試鍍層厚度要考慮鍍層材質和鍍層密度等因素，如果各因素都不確定是無法分析的。...
X射線熒光法（XRF）鍍層測厚儀：能量X熒光光譜側厚法(質量膜厚) 測試原理：XRF鍍層測厚儀測厚是通過X射線激發各種物質（如Mo、Ag、Mn）的特征X射線，然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性，測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標準片（或者對比樣）對比得出各物質的厚度，這種強度和厚度的對應關系在軟件后臺形成曲線。...
X-Strata920?在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。...
對某種金屬鍍層樣品進行測量時，基于鍍層厚度、狀態的不同，所產生的熒光X射線的強度也不一樣。鍍層厚度測量時，可采用兩種不同方法，一種是注重鍍層中的元素所產生的熒光X射線強度，稱為激發法。另一種是注重底材中的元素所產生的熒光X射線強度，稱為吸收法。這兩種方法的應用必需根據鍍層和底材的不同組合來區分使用。鍍層厚度測量時，測量已知厚度的標準樣品而得到其厚度及產生的熒光X射線強度之間的關系，并做出標準曲線。...
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