KS D ISO 3497:2002
金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法
Metallic coatings－Measurement of coating thickness－X-ray spectrometric methods
KS D ISO 3497:2002 中，可能用到以下儀器
- 標準號
- KS D ISO 3497:2002
- 發布
- 2002年
- 發布單位
- 韓國科技標準局
- 替代標準
- KS D ISO 3497-2002(2017)
- 當前最新
- KS D ISO 3497-2002(2022)
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