IPC TM-650 2.3.44-2016
通過 X 射線熒光（XRF）光譜法測定化學鍍鎳（EN）層的厚度和磷含量

Determination of Thickness and Phosphorus Content in Electroless Nickel (EN) Layers by X-Ray Fluorescence (XRF) Spectrometry

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標準號

IPC TM-650 2.3.44-2016

發布

2016年

發布單位

IPC - Association Connecting Electronics Industries

 

 

適用范圍

該測試方法的目的是通過（能量色散）X 射線熒光 (XRF) 分析來測量化學（化學鍍）沉積鎳 (Ni) 涂層的厚度和磷 (P) 濃度。該測量是非破壞性和非接觸式的，可以在環境大氣或真空下進行。應使用直徑為 0.6 毫米的準直器在 1.5 毫米 x 1.5 毫米 [0.060 英寸 x 0.060 英寸] 或等效區域 @ 的定義特征（相當于典型的 SMT 焊盤）上進行測量。這相當于直徑為 1 mm 的測量光斑尺寸（分析區域）。該測試方法主要用于故障分析、過程鑒定和過程審核。由于所需設備的復雜性和成本，它不適用于日常生產控制。

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