IPC TM-650 2.3.44-2016由IPC - Association Connecting Electronics Industries 發布于 2016-03-01，并于 2018-11-29 實施。
IPC TM-650 2.3.44-2016 通過 X 射線熒光（XRF）光譜法測定化學鍍鎳（EN）層的厚度和磷含量的最新版本是哪一版？
IPC TM-650 2.3.44-2016已經是當前最新版本。
該測試方法的目的是通過（能量色散）X 射線熒光 (XRF) 分析來測量化學（化學鍍）沉積鎳 (Ni) 涂層的厚度和磷 (P) 濃度。該測量是非破壞性和非接觸式的，可以在環境大氣或真空下進行。應使用直徑為 0.6 毫米的準直器在 1.5 毫米 x 1.5 毫米 [0.060 英寸 x 0.060 英寸] 或等效區域 @ 的定義特征（相當于典型的 SMT 焊盤）上進行測量。這相當于直徑為 1 mm 的測量光斑尺寸（分析區域）。該測試方法主要用于故障分析、過程鑒定和過程審核。由于所需設備的復雜性和成本，它不適用于日常生產控制。
如果樣品的磷含量大于校準標準，化學鍍鎳厚度的測量將會偏低。若樣品中磷的含量是已知的，是可以對測量數據進行修正。iEDX-150WT軟件允許用戶輸入已知鎳層中磷含量的百分比，并將自動修正測量的厚度。? ? ??被認證過的標準片（使用假定的密度值）和浸鍍層之間的密度差異會影響厚度測量的計算。這種不同可能是由沉積層晶體結構的差異或孔隙度的變化導致的。...
使用高分辨率相機觀察小型特征 兩大現實應用，例證性能優勢 馬特?克林納 (Matt Kreiner)談到了FT160當前的兩大重要的應用：首先是同時測量浸金層下的化學鍍鎳厚度和成分，大幅提高了電子器件行業的常見表面處理ENIG（化學鎳金）沉積的測試效率。使用早期的XRF等技術，用戶需進行兩次測試：一次是完全驗證化學鎳鍍層的兩種特性（厚度和成分），另一次是測試金層厚度。...
對一些特定的化學元素的含量進行檢測和匹配，快速的驗證金屬牌號。? 手持式分析儀的型號? X射線熒光光譜法X射線熒光光譜法(X-rayfluorescencespectrum)或稱X射線熒光分析法(X-rayfluorescenceanalysis)是利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生特征X射線熒光而進行物質成分分析、化學態研究和表面涂層厚度測量的方法。...
de Boer等在測定鎳基鍍金層厚度時，應用FP－MULTI軟件，以純金和純鎳塊樣為標準測定Au厚度時，使用5條特征譜線(NiKα、NiKβ、AuLα、AuLβ1 和AuLβ2)增大了計算的自由度，能夠有效消除基本參數法計算過程的不確定性，使測量的薄膜厚度值更準確，測定值與標準值的相對偏差在2%左右。或借助與其他譜儀(如XRD)聯用中獲得的信息用作判據，選擇相似標樣。...
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