ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods
- 標準號
- ISO 3497:2000
- 發布
- 2000年
- 中文版
- GB/T 16921-2005 (等同采用的中文版本)
- 發布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 3497:2000
- 適用范圍
- 警告 本國際標準不涉及有關人員 X 射線防護的問題。 有關這一重要方面的信息，應參考現行國際和國家標準以及當地法規（如果存在）。 1 本國際標準規定了采用 X 射線光譜法測量金屬涂層厚度的方法。 2 本國際標準適用的測量方法基本上是測定單位面積質量的方法。 利用涂層材料密度的知識，測量結果也可以表示為涂層的線性厚度。 3 測量方法允許同時測量最多三層的涂層系統，或同時測量最多三個組分的層的厚度和成分。 4 給定涂層材料的實際測量范圍很大程度上取決于待分析的特征 X 射線熒光的能量以及可接受的測量不確定度，并且可能因所使用的儀器系統和操作程序而異。
ISO 3497:2000相似標準
推薦
五金鍍層測厚儀測量值精度的影響因素
五金鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。????...
涂層測厚儀的選型及影響因素
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。...
測量鍍層或薄膜厚度的幾種常見方法
其中： 化學法包括化學溶解分析法、化學溶解稱重法和化學溶解液流計時法； 電化學法包括電化學陽極溶解法（庫侖法）； 物理法包括直接測量法和儀器測量法（磁性法、非磁性法、X射線法和電鏡法等）。 下面重點介紹幾種常用的鍍層厚度測試方法。 1、磁性法 【測試原理】磁性測厚儀測量永久磁鐵和基體金屬之間由于存在覆蓋層而引起磁引力的變化，或者是測量穿過覆蓋層與基體金屬的磁通路的磁阻。 ...
涂層測厚儀的選購指南
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。...