ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods
- 標準號
- ISO 3497:2000
- 發布
- 2000年
- 中文版
- GB/T 16921-2005 (等同采用的中文版本)
- 發布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 3497:2000
- 警告 本國際標準不涉及有關人員 X 射線防護的問題。 有關這一重要方面的信息，應參考現行國際和國家標準以及當地法規（如果存在）。 1 本國際標準規定了采用 X 射線光譜法測量金屬涂層厚度的方法。 2 本國際標準適用的測量方法基本上是測定單位面積質量的方法。 利用涂層材料密度的知識，測量結果也可以表示為涂層的線性厚度。 3 測量方法允許同時測量最多三層的...
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