ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods
ISO 3497:2000 發布歷史
ISO 3497:2000由國際標準化組織 IX-ISO 發布于 2000-12。
ISO 3497:2000 在中國標準分類中歸屬于: A29 材料防護，在國際標準分類中歸屬于: 17.040.20 表面特征。
本標準有等同采用的 中文版 GB/T 16921-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線光譜法
ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法的最新版本是哪一版？
最新版本是 ISO 3497:2000 。
ISO 3497:2000的歷代版本如下：
- 2000年 ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法
- 1990年 ISO 3497:1990 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法
- 1976年 ISO 3497:1976 金屬涂層.涂層厚度的測量.X射線光譜測定法
警告 本國際標準不涉及有關人員 X 射線防護的問題。 有關這一重要方面的信息，應參考現行國際和國家標準以及當地法規（如果存在）。 1 本國際標準規定了采用 X 射線光譜法測量金屬涂層厚度的方法。 2 本國際標準適用的測量方法基本上是測定單位面積質量的方法。 利用涂層材料密度的知識，測量結果也可以表示為涂層的線性厚度。 3 測量方法允許同時測量最多三層的涂層系統，或同時測量最多三個組分的層的厚度和成分。 4 給定涂層材料的實際測量范圍很大程度上取決于待分析的特征 X 射線熒光的能量以及可接受的測量不確定度，并且可能因所使用的儀器系統和操作程序而異。
采用 ISO 3497 的發行版本有：
- CSN ISO 3497:1994 金屬涂層．涂層厚度測量．Ｘ射線分光光度法
- DS/EN ISO 3497:2001 金屬涂層 涂層厚度的測量 X射線光譜法
- EN ISO 3497:2000 金屬覆蓋層.鍍層的厚度測量.X射線光譜法ISO 3497-2000
- KS D ISO 3497-2002(2017) 金屬涂層 - 涂層厚度的測量 - X射線光譜儀的方法
- KS D ISO 3497-2002(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量X射線光譜法
- KS D ISO 3497:2002 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法
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