IS 12860-1989
X射線熒光技術法測定金屬鍍層厚度

Determination of metal coating thickness using X-ray fluorescence technique

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標準號: IS 12860-1989
發布: 1990年
發布單位: IN-BIS
當前最新: IS 12860-1989

適用范圍: 1.1 本方法涵蓋使用 X 射線熒光 (XRF) 技術來確定金屬涂層的厚度。該技術適用于靜止和移動樣品。
1.2 本標準適用于單位面積涂層質量和涂層厚度的測定。這里提出的一般原則適用于確定任何基材（金屬或非金屬）上的大多數金屬涂層的厚度。給定涂層的最大可測量厚度是這樣的厚度，超過該厚度，特征二次X射線的強度不再隨著厚度的增加而發生顯著的變化。

IS 12860-1989相似標準

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