IS 12860-1989
X射線熒光技術法測定金屬鍍層厚度
Determination of metal coating thickness using X-ray fluorescence technique
IS 12860-1989 中，可能用到以下儀器設備
- 標準號
- IS 12860-1989
- 發布
- 1990年
- 發布單位
- IN-BIS
- 當前最新
- IS 12860-1989
1.1 本方法涵蓋使用 X 射線熒光 (XRF) 技術來確定金屬涂層的厚度。該技術適用于靜止和移動樣品。 1.2 本標準適用于單位面積涂層質量和涂層厚度的測定。這里提出的一般原則適用于確定任何基材（金屬或非金屬）上的大多數金屬涂層的厚度。給定涂層的最大可測量厚度是這樣的厚度，超過該厚度，特征二次X射線的強度不再隨著厚度的增加而發生顯著的變化。
專題
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