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  • GB/T 20724-2006
    薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法

    Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

    GBT20724-2006, GB20724-2006

    2022-07

    標準號
    GB/T 20724-2006
    別名
    GBT20724-2006, GB20724-2006
    發布
    2006年
    發布單位
    國家質檢總局
    替代標準
    GB/T 20724-2021
    當前最新
    GB/T 20724-2021
     
     
    引用標準
    GB/T 18907-2002
    適用范圍
    本標準規定了用透射電子顯微鏡測定薄晶體試樣厚度的會聚束電子衍射方法。本方法適用于測定線度為10-9m~×10-3m、厚度在幾十至幾百納米范圍的薄晶體厚度。

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