GB/T 20724-2006
薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法
Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
GB/T 20724-2006 中，可能用到以下儀器
- 標準號
- GB/T 20724-2006
- 發布日期
- 2006年12月25日
- 實施日期
- 2007年08月01日
- 廢止日期
- 無
- 中國標準分類號
- N53
- 國際標準分類號
- 71.040.99
- 發布單位
- CN-GB
- 引用標準
- GB/T 18907-2002
- 適用范圍
- 本標準規定了用透射電子顯微鏡測定薄晶體試樣厚度的會聚束電子衍射方法。本方法適用于測定線度為10-9m～×10-3m、厚度在幾十至幾百納米范圍的薄晶體厚度。
GB/T 20724-2006系列標準
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