GB/T 20724-2006
薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法
Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
GB/T 20724-2006 發布歷史
本標準規定了用透射電子顯微鏡測定薄晶體試樣厚度的會聚束電子衍射方法。本方法適用于測定線度為10m～×10m、厚度在幾十至幾百納米范圍的薄晶體厚度。
GB/T 20724-2006由國家質檢總局 CN-GB 發布于 2006-12-25，并于 2007-08-01 實施。
GB/T 20724-2006 在中國標準分類中歸屬于: N53 電化學、熱化學、光學式分析儀器，在國際標準分類中歸屬于: 71.040.99 有關分析化學的其他標準。
GB/T 20724-2006 發布之時，引用了標準
- GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法
GB/T 20724-2006的歷代版本如下：
- 2006年12月25日 GB/T 20724-2006 薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法
- 2021年12月31日 GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法
- 標準號
- GB/T 20724-2006
- 發布日期
- 2006年12月25日
- 實施日期
- 2007年08月01日
- 廢止日期
- 無
- 中國標準分類號
- N53
- 國際標準分類號
- 71.040.99
- 發布單位
- CN-GB
- 引用標準
- GB/T 18907-2002
- 適用范圍
- 本標準規定了用透射電子顯微鏡測定薄晶體試樣厚度的會聚束電子衍射方法。本方法適用于測定線度為10-9m～×10-3m、厚度在幾十至幾百納米范圍的薄晶體厚度。
GB/T 20724-2006系列標準
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