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    • GB/T 20724-2006
    薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法

    Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

    GB/T 20724-2006 中，可能用到以下儀器設備

     

    日本電子JSM-6510系列掃描電子顯微鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    FEI Quanta x50 FEG場發射環境掃描電鏡

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    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    蔡司ULTRA 55掃描電子顯微鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    日本電子6700F高分辨掃描電子顯微鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-2100F 場發射透射電子顯微鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    HF-3300場發射透射電子顯微鏡

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    天美儀拓實驗室設備（上海）有限公司

     

    蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率場發射掃描電鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司SIGMA 500/VP高分辨率場發射掃描電鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506掃描電子顯微鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    JEM-3200FS 場發射透射電子顯微鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    日本電子JASM-6200 ClairScope 大氣壓掃描電子顯微鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    日本電子JCM-6000plus NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    日本電子JSM-7200F掃描電子顯微鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    大氣壓掃描電鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    聚焦離子束系統

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    ULTRA 結構分析用場發射掃描電子顯微鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

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    Quanta SEM

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    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    冷場發射球差校正透射電鏡

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    蔡司ULTRA 55掃描電子顯微鏡

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    蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率場發射掃描電鏡

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    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    蔡司SIGMA 500/VP高分辨率場發射掃描電鏡

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    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506掃描電子顯微鏡

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    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    聚焦離子束系統

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    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

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    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    過程控制用微粒分析工具/掃描電鏡SEM

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    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    蔡司 EVO MA 25/LS 25鎢燈絲系列掃描電鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司SUPRA? 55場發射掃描電鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司SUPRA?40超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    日本電子JSM-7500F 冷場發射掃描電子顯微鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Prisma E SEM掃描電子顯微鏡

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    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    FEI Nova NanoSEM x30超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡

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    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    FEI Inspect S50 掃描電子顯微鏡

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    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB

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    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    蔡司（ZEISS） EVO 18鎢燈絲系列掃描電鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    FEI Inspect F50 場發射掃描電子顯微鏡

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    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    蔡司 EVO MA 15/LS 15鎢燈絲系列掃描電鏡

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    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    FEI Magellan 400L XHR 場發射掃描電鏡

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    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    日本電子JIB-4500聚焦離子束掃描電鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Apollo 300 掃描電鏡

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    TESCAN泰思肯貿易（上海）有限公司

     

    JEM-1400Plus 透射電子顯微鏡

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-2200FS 透射電子顯微鏡

    JEM-2200FS 透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-2100 透射電子顯微鏡

    JEM-2100 透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    H-9500透射電子顯微鏡

    H-9500透射電子顯微鏡

    天美儀拓實驗室設備（上海）有限公司

     

    ZEISS蔡司LIBRA能量過濾式透射電子顯微鏡

    ZEISS蔡司LIBRA能量過濾式透射電子顯微鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    Tecnai G2 Spirit 120kV透射電子顯微鏡

    Tecnai G2 Spirit 120kV透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    Tecnai G2 20 200kV透射電子顯微鏡

    Tecnai G2 20 200kV透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    蔡司EVO MA 10/LS 10鎢燈絲系列掃描電鏡

    蔡司EVO MA 10/LS 10鎢燈絲系列掃描電鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡

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    天美儀拓實驗室設備（上海）有限公司

     

    GB/T 20724-2006

    標準號
    GB/T 20724-2006
    發布日期
    2006年12月25日
    實施日期
    2007年08月01日
    廢止日期
    無
    中國標準分類號
    N53
    國際標準分類號
    71.040.99
    發布單位
    CN-GB
    引用標準
    GB/T 18907-2002
    適用范圍
    本標準規定了用透射電子顯微鏡測定薄晶體試樣厚度的會聚束電子衍射方法。本方法適用于測定線度為10-9m～×10-3m、厚度在幾十至幾百納米范圍的薄晶體厚度。

    GB/T 20724-2006系列標準

    GB/T 20721-2022 自動導引車 通用技術條件 GB/T 20722-2006 激光加工機器人 通用技術條件 GB/T 20723-2006 弧焊機器人 通用技術條件 GB/T 20729-2006 封閉管道中導電液體流量的測量 法蘭安裝電磁流量計 總長度 GB/T 20728-2021 封閉管道中流體流量的測量 科里奧利流量計的選型、安裝和使用指南 GB/T 20727-2006 封閉管道中流體流量的測量 熱式質量流量計 GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數及核查方法 GB/T 20725-2006 波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則

    GB/T 20724-2006 中可能用到的儀器設備

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