GB/T 20724-2006
薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法
Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
GBT20724-2006, GB20724-2006
2022-07
- 標準號
- GB/T 20724-2006
- 別名
- GBT20724-2006
GB20724-2006 - 發布
- 2006年
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 替代標準
- GB/T 20724-2021
- 當前最新
- GB/T 20724-2021
- 引用標準
- GB/T 18907-2002
- 本標準規定了用透射電子顯微鏡測定薄晶體試樣厚度的會聚束電子衍射方法。本方法適用于測定線度為10-9m～×10-3m、厚度在幾十至幾百納米范圍的薄晶體厚度。
GB/T 20724-2006相似標準
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