ASTM D5796-10(2015)
使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法

Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin-Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device

被代替

ASTM D5796-10(2015) 發布歷史

ASTM D5796-10(2015)由美國材料與試驗協會 US-ASTM 發布于 2010。

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ASTM D5796-10(2015) 使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法的最新版本是哪一版？

最新版本是 ASTM D5796-20 。

ASTM D5796-10(2015) 發布之時，引用了標準

• ASTM D3794 線圈涂層試驗的標準指南

ASTM D5796-10(2015)的歷代版本如下：

• 2020年 ASTM D5796-20 使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法
• 2010年 ASTM D5796-10(2015) 使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法
• 2010年 ASTM D5796-10 用鉆孔裝置進行破壞法測量薄膜涂覆系統的干膜厚度的標準試驗方法
• 2003年 ASTM D5796-03(2010) 用鉆孔裝置破壞性測量薄膜盤繞覆層系統的干膜厚度的標準試驗方法
• 2003年 ASTM D5796-03 用鉆孔裝置破壞性測量薄膜盤繞覆層系統的干膜厚度的標準試驗方法
• 1999年 ASTM D5796-99 使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法

1.1 此測試該方法涵蓋通過對鉆入涂膜的精密切割的淺角度凹坑進行顯微觀察來測量涂膜的干膜厚度（DFT）。該凹坑顯示出呈環狀的橫截面層，其寬度與涂層的深度成正比，并允許直接計算干膜厚度。

1.1.1 設備、程序、精度和偏差的討論包括方法 A 和方法 B。方法 A 涉及使用光學測量設備，該設備已不再市售，但仍然是干膜測量的有效方法。方法 B 是取代方法 A 的軟件驅動測量程序。 1.2 基材可以是任何剛性金屬材料，例如冷軋鋼、熱浸鍍鋅鋼、鋁等。基材必須是平面的除了展示“線圈組”的基板外，可以通過使用鉆孔設備上的夾緊工具將其保持水平。注 1：基材表面輪廓的變化可能會導致有機涂層厚度讀數不準確。這種情況可能存在于熱浸鍍鋼板等基材上。所有“精密切割”都是如此。用于測定有機涂層干膜厚度的方法。這就是為什么如果基材表面輪廓可疑，則在條帶上進行多次測量可能會很有用。 1.3 厚度測量范圍為0至3.5密耳（0至89μm）。注 2：對于大于 3.5 mils (89μm) 但小于 63 mils (1600 μm) 的薄膜的 DFT 測量，45°鉆孔器可以按照本測試方法使用，但 6.8 除外，其中千分尺讀數將提供直接讀數，并且根據 4.3.1 方法 A 1.4 中的方法 A 除以 10 是不必要的。

1.4 測量可以可以在卷材涂層片材、某些成型產品或測試板上制成。 1.5 以 SI 單位表示的值應被視為標準。括號中給出的值僅供參考。 1.6 這個站……

標準號

ASTM D5796-10(2015)

發布

2010年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM D5796-20

當前最新

ASTM D5796-20

 

 

引用標準

ASTM D3794

ASTM D5796-10(2015)相似標準

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