ASTM D5796-10(2015)
使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法
Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin-Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device
哪些標準引用了ASTM D5796-10(2015)
找不到引用ASTM D5796-10(2015) 采用使用鉆孔裝置的破壞方法測量薄膜盤繞覆層系統的干膜厚度的標準試驗方法 的標準
- 標準號
- ASTM D5796-10(2015)
- 發布
- 2010年
- 發布單位
- 美國材料與試驗協會
- 替代標準
- ASTM D5796-20
- 當前最新
- ASTM D5796-20
- 引用標準
- ASTM D3794
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