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  • ASTM D5796-20
    使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法

    Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin-Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device


    標準號
    ASTM D5796-20
    發布
    2020年
    發布單位
    美國材料與試驗協會
    當前最新
    ASTM D5796-20
     
     
    引用標準
    ASTM D3794
    適用范圍
    1.1 本測試方法涵蓋通過在涂膜上鉆出的精密切割的淺角度凹坑的顯微鏡觀察來測量涂膜的干膜厚度(DFT)。該凹坑顯示出呈環狀的橫截面層,其寬度與涂層的深度成正比,并允許直接計算干膜厚度。
    1.1.1 設備、程序、精度和偏差討論包括方法 A 和方法 B。方法 A 涉及使用光學測量設備,該設備已不再市售,但仍然是干膜測量的有效方法。方法 B 是取代方法 A 的軟件驅動測量程序。
    1.2 基材可以是任何剛性金屬材料,例如冷軋鋼、熱浸鍍鋅鋼、鋁等。基材必須是平面的,但以下情況除外:具有“線圈組”的基板,可以通過使用鉆孔設備上的夾緊工具將其保持水平。注 1——基材表面輪廓的變化可能會導致有機涂層厚度讀數不準確。這種情況可能存在于熱浸鍍鋼板等基材上。所有用于確定有機涂層干膜厚度的“精密切割”方法都是如此。這就是為什么如果基材表面輪廓可疑,則在條帶上進行多次測量可能會很有用。
    1.3 厚度測量范圍為0至3.5密耳(0至89微米)。注 2:對于大于 3.5 密耳(89 微米)但小于 63 密耳(1600 微米)的薄膜的 DFT 測量,可根據本測試方法使用 45° 鉆孔器,但 6.8 除外,其中千分尺讀數將提供直接讀數,并且根據 4.3.1 方法 A,不需要除以 1。
    1.4 可以在卷材涂層板、某些成型產品或測試板上進行測量。
    1.5 以 SI 單位表示的數值應被視為標準。括號中給出的值僅供參考。
    1.6 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題(如果有)。本標準的使用者有責任建立適當的安全、健康和環境實踐,并在使用前確定監管限制的適用性。
    1.7 本國際標準是根據世界貿易組織貿易技術壁壘(TBT)委員會發布的《關于制定國際標準、指南和建議的原則的決定》中確立的國際公認的標準化原則制定的。

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