ASTM D5796-10(2015)
使用鏜孔裝置通過破壞性方法測量薄膜線圈涂覆系統的干膜厚度的標準測試方法
Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin-Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device
說明：
- 此圖僅顯示與當前標準最近的5級引用；
- 鼠標放置在圖上可以看到標題編號；
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- 表示標準的節點，可以拖動；
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- 箭頭終點方向的標準引用了起點方向的標準。
- 標準號
- ASTM D5796-10(2015)
- 發布
- 2010年
- 發布單位
- 美國材料與試驗協會
- 替代標準
- ASTM D5796-20
- 當前最新
- ASTM D5796-20
- 引用標準
- ASTM D3794
- 1.1 此測試該方法涵蓋通過對鉆入涂膜的精密切割的淺角度凹坑進行顯微觀察來測量涂膜的干膜厚度（DFT）。該凹坑顯示出呈環狀的橫截面層，其寬度與涂層的深度成正比，并允許直接計算干膜厚度。 1.1.1 設備、程序、精度和偏差的討論包括方法 A 和方法 B。方法 A 涉及使用光學測量設備，該設備已不再市售，但仍然是干膜測量的有效方法。方法 B 是取代...
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