依據G B/T 1558-2009和G B/T 1557-2006,紅外光譜法可以在對單晶硅中代位碳和間隙氧進行定性的同時進行定量測定,具有快速、方便、準確的優點。?關鍵詞: 紅外光譜法 ?單晶硅 ?碳氧含量 ?定量測定? · 原理利用硅中代位碳原子和間隙氧原子分別在波數607.2cm -1和1107cm -1 有特征吸收,根據吸收峰的吸收系數來確定代位碳原子濃度和間隙氧原子的濃度。????...
針對直拉單晶硅中雜質元素以及氮氧復合體的測量,布魯克CryoSAS全自動、高靈敏度工業低溫硅質量控制分析系統,通過測試位于中/遠紅外波段間隙氧(1136.3cm-1, 1205.6cm-1)[7],代位碳(607.5cm-1)[6,7],III-V族元素[4,5]以及氮氧復合體吸收譜帶(249.8,240.4cm-1[1,2]),通過直接或間接計算獲得相應元素含量值。...
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