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  • JEDEC JESD51-9-2000
    區域排列表面安裝包裝熱測量的測試板

    Test Boards for Area Array Surface Mount Package Thermal Measurements


    哪些標準引用了JEDEC JESD51-9-2000

     

     

     

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    標準號
    JEDEC JESD51-9-2000
    發布日期
    2000年07月01日
    實施日期
    廢止日期
    中國標準分類號
    L86
    國際標準分類號
    31.080
    發布單位
    (美國)固態技術協會,隸屬EIA
    適用范圍
    This specification is meant to be broad enough to incorporate a wide variety of surface mount area array package (e.g., BGA) design features and technologies. However, due to a limited number of signal layers that results in shorting some device pins in this specification, the boards described here may not be adequate for measurement of active devices as compared to applications with thermal test chips.

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