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  • DIN 50448:1998
    半導體工藝材料試驗.使用電容式探測器對半絕緣半導體切片電阻率的無接觸測定

    Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical resistivity of semi-insulating semi-conductor slices using a capacitive probe


    標準號
    DIN 50448:1998
    發布
    1998年
    發布單位
    德國標準化學會
    當前最新
    DIN 50448:1998
     
     
    適用范圍
    本文檔涵蓋了高歐姆電阻、半絕緣半導體切片的電阻率非接觸式測定。

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