DIN 50448:1998
半導體工藝材料試驗.使用電容式探測器對半絕緣半導體切片電阻率的無接觸測定
Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical resistivity of semi-insulating semi-conductor slices using a capacitive probe
說明：
- 此圖僅顯示與當前標準最近的5級引用；
- 鼠標放置在圖上可以看到標題編號；
- 此圖可以通過鼠標滾輪放大或者縮小；
- 表示標準的節點，可以拖動；
- 綠色表示標準：DIN 50448:1998 ， 綠色、紅色表示本平臺存在此標準，您可以下載或者購買，灰色表示平臺不存在此標準；
- 箭頭終點方向的標準引用了起點方向的標準。
