GB/T 6618-1995
硅片厚度和總厚度變化測試方法
Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices
GBT6618-1995, GB6618-1995
2010-06
點擊查看大圖
- 標準號
- GB/T 6618-1995
- 別名
- GBT6618-1995
GB6618-1995 - 發布
- 1995年
- 總頁數
- 7頁
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 替代標準
- GB/T 6618-2009
- 當前最新
- GB/T 6618-2009
本標準規定了硅單晶切割片、研磨片和拋光片（簡稱硅片）厚度和總厚度變化的分立點式和掃描式測量方法。
GB/T 6618-1995 中可能用到的儀器設備
其他標準
專題
GB/T 6618-1995相似標準
推薦
紙樣厚度測試儀的產品用途和技術參數
功能用途 GH-3型數字測厚儀是一種集光、機、電、算為一體的高精度數字測厚儀，操作方便。測量結果為數字顯示，有清零設置，方便消除測量誤差。主要用于對塑料薄膜，紙張等直接測量或比較測量，還可用于幾何尺寸形位偏差的檢測和機械加工過程中進給量的監控和在線檢測。 技術參數 1. 測量范圍...
質檢總局公布271項國家標準(09年第12期
GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定擴展電阻探針法 GB/T 6617-1995 1986-07-26 2009-10-30 2010-06-01 35 GB/T 6618-2009 硅片厚度和總厚度變化測試方法 GB/T 6618-1995...