GB/T 4937.35-2024
半導體器件 機械和氣候試驗方法 第35部分：塑封電子元器件的聲學顯微鏡檢查

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopic examination of plastically encapsulated electronic components

GBT4937.35-2024, GB4937.35-2024

GB/T 4937.35-2024 發布歷史

GB/T 4937.35-2024由國家質檢總局 CN-GB 發布于 2024-03-15，并于 2024-07-01 實施。

GB/T 4937.35-2024 在中國標準分類中歸屬于: L40 半導體分立器件綜合，在國際標準分類中歸屬于: 31.080.01 半導體器分立件綜合。

GB/T 4937.35-2024 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第35部分：塑封電子元器件的聲學顯微鏡檢查的最新版本是哪一版？

最新版本是 GB/T 4937.35-2024 。

GB/T 4937.35-2024的歷代版本如下：

• 2024年 GB/T 4937.35-2024 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第35部分：塑封電子元器件的聲學顯微鏡檢查

標準號

GB/T 4937.35-2024

別名

GBT4937.35-2024
GB4937.35-2024

發布

2024年

發布單位

國家質檢總局

當前最新

GB/T 4937.35-2024

 

 

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