【內容簡介】

原子力顯微鏡(AFM)被廣泛用于科研和工業界各領域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，細胞表面形態觀察，生物大分子的結構及性質，生物傳感器，分子自組裝結構等領域的監測等各類科研和生產工作。本次講座我們將重點介紹采用Bruker NanoScope Analysis離線處理軟件對所獲取的 AFM圖像進行后期處理以及數據分析。

本次講座的內容主要包括： 1、介紹NanoScope Analysis軟件中圖像處理類功能的原理以及使用方法，包括Flatten, Erase, Plane Fit, Lowpass等。 2、介紹NanoScope Analysis軟件中數據分析類的功能，包括Section, Roughness, Step, Particle Analysis等。

【主講人簡介】

殷 豪，1981年出生，男，博士，布魯克高級技術支持工程師，客戶培訓講師。2010年畢業于中國科學院上海技術物理研究所，獲得理學博士學位。博士期間主 要從事基于原子力顯微鏡(AFM)的III-V族半導體納米電子學研究;畢業后主要從事AFM相關的軟硬件技術支持，以及售后應用支持;具有長達9年的 AFM技術經驗。

【合作伙伴】