布魯克推出納米級研究工具MultiMode 8-HR AFM
分析測試百科網訊 近日,布魯克納米表面事業部宣布推出MultiMode 8-HR原子力顯微鏡(AFM),它能為納米力學帶來了新的功能,也為擁有世界上最高分辨率,經過現場驗證的,使用最廣泛的掃描探針顯微鏡(SPM)帶來了更快的成像速度。新的納米力學功能可以使科學家獲得更廣的粘連彈性研究中的斜坡頻率和更廣范圍的納米力學的材料評估,樣本可以從軟的生物標本到硬的金屬樣本。
“MultiMode平臺已經很早就已經成為多功能應用和性能的黃金標準,而且我們還特地增強了MultiMode 8-HR的性能,”布魯克AFM部門的副總裁和總經理Stephen Minne如是說。
MultiMode 8-HR的高分辨和數據處理能力是由其堅硬的機械設計和先進的電子控制結合的結果。它結合了布魯克的NanoScope V控制器和8.2的新版軟件,使得該系統具有無與倫比的頻寬和極低的數據采集噪音。
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