【內容簡介】

該講座重點介紹原子力顯微鏡各種成像模式的參數設定及其對成像質量的影響，重點講解Tapping模式和PeakForce Tapping模式的力控制以及高分辨成像。探討探針、樣品、參數設定等對最終成像質量的影響。

【主講人簡介】

孫昊博士，1982年10月出生于山東省濟南市。2000年至2004年就讀于山東大學化學與化工學院應用化學系。2005年進入北京大學化學與分子工程學院無機化學系碩博連讀。主要研究方向是基于掃描探針顯微技術的無機納米材料的制備和表征。2010年獲得理學博士學位。畢業后加入Bruker納米表面儀器部擔任客戶服務中心及售后服務主管。

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