【內容簡介】

新型二維材料自2004年石墨烯被發現以來，探尋其他新型二維晶體材料一直是二維材料研究領域的前沿。正如石墨烯一樣，大尺寸高質量的其他二維晶體不僅對于探索二維極限下新的物理現象和性能非常重要，而且在電子、光電子等領域具有諸多新奇的應用。原子力顯微鏡(AFM)一直被廣泛用于二維材料的形態和厚度表征。

由布魯克公司獨有的專利PeakForce tapping技術支撐，AFM不僅可以獲得二維材料的原子分辨率的圖像,也可以同時映射出多維物理屬性,包括機械性能(模量、附著力和變形等)和電學性質(表面電位、導電性和壓電響應等)。強大的AFM-Raman或AFM-IR技術，結合PeakForce QNM，能夠更完善和定量描述二維材料。本次網絡講座將為大家介紹AFM在二維材料應用研究上的最新進展。

【主講人簡介】

陳葦綱，布魯克(北京)科技有限公司應用科學家。2013年加入布魯克公司任上海實驗室的技術支持，主要負責原子力顯微鏡在材料，物理，生物及化學等各個研究領域的應用。

教育背景：本科畢業于南京大學材料化學專業，博士畢業于新加坡南洋理工大學材料科學與工程學院。博士期間主要從事利用激光濺射沉積發制備無鉛多鐵材料BiFeO3的單晶外延薄膜，研究稀土元素摻雜對其結構，通過PFM，CAFM及MFM等模式來進行鐵電壓電性能，導電以及磁學性能的表征。

【合作伙伴】