改善分析殘留溶劑的保留時間和峰面積重現性，提高靈敏度

因為許多溶劑對人體健康有害，故國家和國際法規機構，如美國食品與藥品管理局（U.S. FDA）、美國藥典（USP）和國際協調大會（ICH）都要求對藥物產品中的殘留溶劑進行分析。基于可能的危害性，溶劑被分為三類：一類溶劑應當避免，二類溶劑應當限制，三類溶劑毒性較低。為了保證安全，要求殘留溶劑的最低限量會越來越低，這就需要越來越靈敏和準確的分析方法。

　　本文使用的系統由Agilent 7890A GC和Agilent G1888自動頂空進樣器（HS）組成。7890A上的EPC輔助模塊（HS樣品瓶壓力控制）和雙模式PCM模塊（HS出口的反壓控制）用于改善頂空進樣性能。

實驗部分

要點

　　使用7890A上的先進電子氣路實現頂空GC更可靠、重現性更高的殘留溶劑分析。
　　? 提高了精密度：在帶有頂空（HS）進樣環上5.000 psi的BPR的7890A，峰面積的RSD從HS/6890GC系統的9%降低到3%。保留時間精度提高到+/-0.001 min
　　? 提高了靈敏度：與常壓的進樣環相比，電子反壓調節器（BPR）對HS進樣環施加的反壓可以使峰面積翻倍
　　? 縮短了樣品分析周期：對高沸點溶劑和遲流出的本底峰進行反吹使一類殘留溶劑的樣品分析時間縮短了50%
　　? DB-624色譜柱：安捷倫0.45 mm內徑的DB-624色譜柱對于不同濃度的一類和二類溶劑的復雜混合物具有卓越的分離度、低流失性和高的峰容量

討論

　　測定低含量的殘留溶劑一般用氣相色譜（GC）配以火焰離子化檢測器（FID）和靜態頂空進樣裝置。圖1顯示了ICH規定的最低限量（2到5,000ppm）的一類和二類殘留溶劑標準溶液的色譜圖。當前藥品質量控制實驗室面臨一些與儀器有關的問題：

　　? HS分析的峰面積精度會因為大氣壓的波動影響了氣體進樣閥（GSV）樣品環中的被分析物進樣量而降低
　　? 某些低濃度被分析物（如苯）的靈敏度低
　　? 遲流出的雜質和高沸點溶劑/稀釋劑（如1，3-二甲基-2-咪唑啉酮[DMI]，沸點225℃），使進樣周期/樣品分析周期延長

　　7890A GC新的微板流路控制技術和先進的電子氣路控制技術解決了這些問題，顯著改善了殘留溶劑的分析。圖2所示為HS/VI/GC/FID系統框圖。通過揮發性物質分析接口（VI）將HS傳送管連接到GC，VI以2:1的分離比操作以提高靈敏度。由電子反壓調節器（BPR）控制頂空進樣器的氣體進樣閥樣品環中的樣品壓力精度為0.001psi，從而大大提高了峰面積精度。這一功能是7890A GC上雙模式可編程控制模塊（PCM）的組成部分。通過對氣體進樣閥（GSV）樣品環中的樣品加壓也提高了靈敏度。最后，微板流路控制技術更容易實現色譜柱反吹，加上柱箱快速降溫功能，縮短了樣品分析周期；圖3說明了這一點。圖4是一個代表性的例子，顯示了分析鄰-二甲苯的峰面積和保留時間重復性以及方法檢測限（MDL）。[1]