型射線衍射分析儀

本專題涉及型射線衍射分析儀的標準有162條。

國際標準分類中，型射線衍射分析儀涉及到輻射防護、分析化學、職業安全、工業衛生、有色金屬、無機化學、耐火材料、非金屬礦、化工產品、建筑材料、教育、輻射測量、電站綜合、無損檢測、空氣質量、核能工程、金屬材料試驗、電工和電子試驗、金屬礦、半導體材料、土方工程、挖掘、地基構造、地下工程、涂料配料、光學和光學測量、長度和角度測量。

在中國標準分類中，型射線衍射分析儀涉及到放射衛生防護、化學試劑綜合、輕金屬及其合金分析方法、金相檢驗方法、無機化工原料綜合、硅質耐火材料、耐火材料綜合、通用核儀器、非金屬礦、化妝品、金屬無損檢驗方法、水泥、教學專用儀器、核儀器與核探測器綜合、重金屬及其合金分析方法、石油地質勘探、電力試驗技術、教育、學位、學銜、工業防塵防毒技術、生產環境安全衛生設施、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、計量綜合、輻射防護儀器、光學儀器綜合、無機鹽、鐵礦、技術管理、、光學計量、電化學、熱化學、光學式分析儀器、基礎標準與通用方法、大氣環境有毒害物質分析方法、化學計量、實驗室基礎設備、質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯用裝置、光學測試儀器、水泥混合材與外加劑、物質成份分析儀器與環境監測儀器綜合、混凝土、集料、灰漿、砂漿、氧化物、單質、放射性同位素應用儀器。

國家質檢總局，關于型射線衍射分析儀的標準

GB 16355-1996 X射線衍射儀和熒光分析儀放射防護標準
GB/T 30904-2014 無機化工產品晶型結構分析 X射線衍射法
GB/T 19421.1-2003 層狀結晶二硅酸鈉試驗方法 δ相層狀結晶二硅酸鈉定性分析 X射線衍射儀法
GB/T 21006-2007 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標的線性
GB/T 6609.32-2009 氧化鋁化學分析方法和物理性能測定方法.第32部分:α-三氧化二鋁含量的測定.X-射線衍射法
GB/T 22571-2008 表面化學分析.X射線光電子能譜儀.能量標尺的校準
GB/T 20726-2015 微束分析電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數及核查方法

PT-IPQ，關于型射線衍射分析儀的標準

E E 14-1971 X射線衍射分析

韓國科技標準局，關于型射線衍射分析儀的標準

KS M 0043-2009 X射線衍射分析法
KS M 0043-2019 射線衍射分析的一般規則
KS M 0043-2009(2019) X射線衍射分析的一般規則
KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化學分析-全反射X-射線熒光分析儀測定硅片表面元素雜質
KS D ISO 21270:2005 表面化學分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
KS D ISO 15472:2003 表面化學分析.X射線光電光譜儀.能量刻度的校正
KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化學分析X射線光電子能譜儀部分性能參數說明
KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標度的線性
KS D ISO 15632:2012 微光束分析.帶半導體探測器的能量發散X射線分光儀的儀器規范

衛生部國家職業衛生標準，關于型射線衍射分析儀的標準

GBZ 115-2002 X射線衍射和熒光分析儀衛生防護標準

工業和信息化部，關于型射線衍射分析儀的標準

YS/T 1178-2017 鋁渣物相分析X射線衍射法
YB/T 172-2020 硅磚定量相分析 X射線衍射法
YS/T 1344.3-2020 摻錫氧化銦粉化學分析方法第3部分：物相分析 X射線衍射分析法
YS/T 1160-2016 工業硅粉定量相分析二氧化硅含量的測定 X射線衍射K值法

行業標準-黑色冶金，關于型射線衍射分析儀的標準

YB/T 5336-2006 高速鋼中碳化物相的定量分析 X射線衍射儀法
YB/T 172-2000 硅磚定量相分析.X射線衍射法
YB/T 5320-2006 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法

美國國家標準學會，關于型射線衍射分析儀的標準

ANSI/HPS N43.2-2021 射線衍射和熒光分析設備的輻射安全
ANSI N43.2-2001 X射線衍射和熒光分析設備的輻射安全

行業標準-海關，關于型射線衍射分析儀的標準

HS/T 12-2006 滑石、綠泥石、菱鎂石混合相的定量分析 X 射線衍射儀法

國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于型射線衍射分析儀的標準

GB/T 36923-2018 珍珠粉鑒別方法 X射線衍射分析法
GB/T 40407-2021 硅酸鹽水泥熟料礦相X射線衍射分析方法

日本工業標準調查會，關于型射線衍射分析儀的標準

JIS K 0131:1996 X射線衍射計測量分析的通用規則
JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
JIS A 1481-3:2014 建筑材料產品中石棉的測定.第3部分:X-射線衍射法對含有石棉的定量分析
JIS A 1481-3 AMD 1:2022 建筑材料產品中石棉的測定. 第3部分: X-射線衍射法對含有石棉的定量分析(修改件1)

行業標準-教育，關于型射線衍射分析儀的標準

JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結構分析方法通則
JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結構分析方法通則

德國標準化學會，關于型射線衍射分析儀的標準

DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 無損檢測 X射線衍射殘余應力分析試驗方法
DIN EN 15305:2009-01 無損檢測 X射線衍射殘余應力分析試驗方法
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 無損檢驗使用X射線衍射法進行分析殘余應力分析的試驗方法
DIN EN 15305:2009 無損檢測.X射線衍射法對殘余應力分析用試驗方法
DIN EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
DIN EN 13925-3:2005-07 無損檢測多晶和非晶材料的 X 射線衍射第3部分：儀器
DIN IEC 62495:2011 核儀器.使用微型X射線管的便攜式X射線熒光分析設備(IEC 62495-2011)
DIN EN 12698-2:2007 氮化物結合碳化硅耐火材料的化學分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法
DIN ISO 16129:2020-11 表面化學分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
DIN IEC 61453:2008 核儀器.放射性核素分析用閃爍γ射線探測器系統.校準和功能檢驗
DIN ISO 15632:2015 微光束分析.帶半導體探測器能量發散X射線分光儀的儀器規范(ISO 15632-2012)

法國標準化協會，關于型射線衍射分析儀的標準

NF EN 15305:2009 無損檢測 X射線衍射殘余應力分析試驗方法
NF T25-111-3:1991 碳纖維-織構和結構-第3部分：X 射線衍射的方位角分析
NF A09-185*NF EN 15305:2009 無損檢測.用X射線衍射對殘余應力分析的試驗方法
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
NF A09-285:1999 無損試驗.通過X射線衍射進行殘余應力分析的試驗方法
NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 工作場所空氣通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅第2部分：間接分析法
NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 氮化物結合碳化硅耐火材料的化學分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法.
NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 工作場所空氣通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅第1部分：直接過濾法
NF ISO 16258-2:2015 工作場所空氣通過 X 射線衍射測定結晶二氧化硅的可吸入部分第2部分：間接分析方法
NF X21-055:2006 表面化學分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準
NF ISO 16258-1:2015 工作場所空氣 X 射線衍射法測定結晶二氧化硅的可吸入部分第1部分：直接過濾分析方法
NF X21-008:2012 微光束分析.帶半導體探測器能量發散X射線分光儀的儀器規格

SCC，關于型射線衍射分析儀的標準

DANSK DS/EN 15305:2008 無損檢測.X射線衍射殘余應力分析試驗方法
DANSK DS/EN 15305/AC:2009 無損檢測-X射線衍射殘余應力分析的測試方法
NS-EN 15305:2008 無損檢測 X 射線衍射殘余應力分析的測試方法
AENOR UNE-EN 15305:2010 無損檢測-X射線衍射殘余應力分析的測試方法
10/30156853 DC BS EN 62495 核儀器儀表使用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設備
05/30137047 DC EN 15305 無損檢測 X射線衍射殘余應力分析試驗方法
NS-EN 13925-3:2005 無損檢測多晶和非晶材料的 X 射線衍射第3部分：儀器
DANSK DS/EN 13925-3:2005 無損檢測多晶和非晶材料的 X 射線衍射第3部分：儀器
AENOR UNE-EN 13925-3:2006 無損檢測多晶和非晶材料的 X 射線衍射第3部分：儀器
DIN IEC 62495 E:2010 核儀器利用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設備（IEC 45/702/CDV:2010）草案
BS ISO 15472:2001 表面化學分析 X射線光電子能譜儀能量標度的校準
11/30230635 DC BS ISO 16129 表面化學分析 X射線光電子能譜法 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
BS ISO 15632:2002 微束分析帶半導體探測器的能量色散X射線光譜儀的儀器規范
ISO 15472:2001/DAmd 1 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀能量校準修改件1

行業標準-核工業，關于型射線衍射分析儀的標準

EJ/T 767-1993 放射源激發的x射線熒光分析儀
EJ/T 684-1992 便攜式源激發X射線熒光分析儀
EJ/T 684-2016 便攜式能量色散X射線熒光分析儀

行業標準-石油，關于型射線衍射分析儀的標準

SY/T 5163-1995 沉積巖粘土礦物相對含量X射線衍射分析方法
SY/T 5163-2010 沉積巖中黏土礦物和常見非黏土礦物X射線衍射分析方法
SY/T 6210-1996 沉積巖中粘土礦物總量和常見非粘土礦物X射線衍射定量分析方法

英國標準學會，關于型射線衍射分析儀的標準

BS EN 15305:2008(2009) 無損檢測 X 射線衍射殘余應力分析的試驗方法
BS ISO 16258-2:2015 工作場所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 間接分析法
BS EN 15305:2008 無損檢驗.使用X射線衍射分析剩余應力的試驗方法
BS EN 12698-2:2007 和碳化硅耐熔制品結合的氮化物的化學分析.射線衍射(XRD)法
BS ISO 16258-1:2015 工作場所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 直接過濾法
BS ISO 16129:2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序
BS ISO 16129:2012 表面化學分析.X射線光電子能光譜學.X射線光電子能譜儀日常性能評估規程
BS ISO 21270:2004 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度尺度的線性
BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標度線性度
BS ISO 21270:2005 表面化學分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強度標的線性度

GSO，關于型射線衍射分析儀的標準

BH GSO IEC 62495:2016 核儀器采用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設備
OS GSO IEC 62495:2014 核儀器采用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設備
GSO IEC 61335:2014 核儀器用于 X 射線熒光分析的井儀器
GSO IEC 62495:2014 核測量儀器和設備使用微型 X 射線管進行 X 射線分析的移動熒光設備
GSO ISO 16258-2:2021 工作場所空氣通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅第2部分：間接分析法
BH GSO ISO 16258-2:2022 工作場所空氣通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅第2部分：間接分析法
BH GSO IEC 61335:2016 核儀器用于 X 射線熒光分析的鉆孔裝置
OS GSO IEC 61335:2014 核儀器用于 X 射線熒光分析的鉆孔裝置
GSO ISO 16258-1:2021 工作場所空氣通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅第1部分：直接過濾法
BH GSO ISO 16258-1:2022 工作場所空氣通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅第1部分：直接過濾法
OS GSO ISO 16129:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
BH GSO ISO 16129:2015 表面化學分析 X射線光電子能譜評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
OS GSO ISO 21270:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標度的線性
GSO ISO 21270:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標度的線性
BH GSO ISO 21270:2016 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標度的線性
BH GSO ISO 15472:2016 表面化學分析 X射線光電子能譜儀能量標度的校準

行業標準-電力，關于型射線衍射分析儀的標準

DL/T 1151.22-2012 火力發電廠垢和腐蝕產物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析

丹麥標準化協會，關于型射線衍射分析儀的標準

DS/EN 15305/AC:2009 無損檢測用 X 射線衍射分析殘余應力的試驗方法
DS/EN 15305:2008 無損檢測用 X 射線衍射分析殘余應力的試驗方法
DS/EN 13925-3:2005 無損檢測多晶和非晶材料的 X 射線衍射第3部分：儀器

立陶宛標準局，關于型射線衍射分析儀的標準

LST EN 15305-2008 無損檢測用 X 射線衍射分析殘余應力的試驗方法
LST EN 15305-2008/AC-2009 無損檢測用 X 射線衍射分析殘余應力的試驗方法
LST EN 13925-3-2005 無損檢測多晶和非晶材料的 X 射線衍射第3部分：儀器

AENOR，關于型射線衍射分析儀的標準

UNE-EN 15305:2010 無損檢測用 X 射線衍射分析殘余應力的試驗方法
UNE-EN 13925-3:2006 無損檢測多晶和非晶材料的 X 射線衍射第3部分：儀器

行業標準-建材，關于型射線衍射分析儀的標準

JC/T 1085-2008 水泥用X射線熒光分析儀

國家計量檢定規程，關于型射線衍射分析儀的標準

JJG(電子) 09006-1989 WILTRON640型射頻分析儀檢定規程

國際電工委員會，關于型射線衍射分析儀的標準

IEC 62495:2011 核監測儀表.利用微型X-射線管的便攜式X-射線熒光分析設備
IEC 61335:1997 核儀器 X射線熒光分析法用鉆孔設備
IEC 61453:2007 核檢測儀表.放射性核素分析用閃爍γ射線探測器系統.校準和常規試驗

歐洲標準化委員會，關于型射線衍射分析儀的標準

EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
EN 12698-2:2007 氮化物結合碳化硅耐火材料的化學分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法
EN 15305:2008 無損檢驗.使用X射線衍射分析剩余應力的試驗方法.合并勘誤表-2009年1月

行業標準-機械，關于型射線衍射分析儀的標準

JB/T 9399-1999 X射線分析儀器主參數系列
JB/T 9399-2010 X射線分析儀器主參數系列

VDE - VDE Verlag GmbH@ Berlin@ Germany，關于型射線衍射分析儀的標準

VDE 0412-20-2011 核儀器使用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設備（IEC 62495:2011）

行業標準-電子，關于型射線衍射分析儀的標準

SJ 20250-1993 HP8590A型射頻頻譜分析儀檢定規程

美國材料與試驗協會，關于型射線衍射分析儀的標準

ASTM E3294-22 用粉末X射線衍射法對地質材料進行法醫分析的標準指南
ASTM E3294-23 用粉末X射線衍射法對地質材料進行法醫學分析的標準指南
ASTM D5380-93(2003) 通過X射線衍射分析鑒定涂料中結晶顏料和擴展劑的標準測試方法
ASTM D5380-93(2021) 通過X射線衍射分析鑒定涂料中結晶顏料和擴展劑的標準測試方法
ASTM C1365-06(2011) 用X射線粉末衍射分析法測定硅酸鹽水泥和硅酸鹽水泥熔渣階段比的標準試驗方法
ASTM C1365-06 用X射線粉末衍射分析法測定硅酸鹽水泥和硅酸鹽水泥熔渣階段比的標準試驗方法
ASTM C1365-98 用X射線粉末衍射分析測定硅酸鹽水泥和硅酸鹽水泥熔渣的階段比例的標準試驗方法
ASTM C1365-98(2004) 用X射線粉末衍射分析測定硅酸鹽水泥和硅酸鹽水泥熔渣的階段比例的標準試驗方法
ASTM C1365-18 使用X射線粉末衍射分析法測定波特蘭水泥和波特蘭水泥熟料中相的比例的標準測試方法

國家能源局，關于型射線衍射分析儀的標準

SY/T 5163-2018 沉積巖中黏土礦物和常見非黏土礦物X射線衍射分析方法

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于型射線衍射分析儀的標準

GB/T 36017-2018 無損檢測儀器 X射線熒光分析管
GB/T 22571-2017 表面化學分析 X射線光電子能譜儀能量標尺的校準
GB/T 35734-2017 便攜式管激發X射線熒光分析儀分類、安全要求及其試驗
GB/T 32999-2016 表面化學分析深度剖析用機械輪廓儀柵網復型法測量濺射速率

國家計量技術規范，關于型射線衍射分析儀的標準

JJF 1079-2002 陰極射線管彩色分析儀校準規范
JJF 1133-2005 X射線熒光光譜法黃金含量分析儀校準規范

國際標準化組織，關于型射線衍射分析儀的標準

ISO 16258-2:2015 工作場所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅. 第2部分: 間接分析法
ISO 16258-1:2015 工作場所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅. 第1部分: 直接過濾法
ISO 15472:2010 表面化學分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準
ISO 15472:2001 表面化學分析 X射線光電譜儀能量刻度表校準
ISO 16129:2018 表面化學分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
ISO 16129:2012 表面化學分析.X射線光電子能光譜學.X射線光電子能譜儀日常性能評估規程
ISO 21270:2004 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
ISO 15632:2021 微光束分析.帶半導體探測器能量發散X射線分光儀的儀器規范
ISO 15632:2012 微光束分析.帶半導體探測器能量發散X射線分光儀的儀器規范
ISO 15632:2002 微光束分析.帶半導體探測器的能量發散X射線分光儀的儀器規范

KR-KS，關于型射線衍射分析儀的標準

KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化學分析-全反射X射線熒光分析儀測定硅晶片表面元素雜質
KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學分析-X射線光電子能譜儀-能量刻度的校準

工業和信息化部/國家能源局，關于型射線衍射分析儀的標準

JB/T 12962.2-2016 能量色散X射線熒光光譜儀第2部分：元素分析儀
JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀第3部分：鍍層厚度分析儀

RU-GOST R，關于型射線衍射分析儀的標準

GOST R ISO 16258-1-2017 工作場所空氣通過 X 射線衍射分析可吸入結晶二氧化硅第 1 部分. 直接過濾法

IN-BIS，關于型射線衍射分析儀的標準

IS 12803-1989 X射線熒光光譜儀分析水硬性水泥的方法

未注明發布機構，關于型射線衍射分析儀的標準

DIN ISO 15472 E:2019-09 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀能標校準
DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化學分析 X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序
DIN ISO 15632 E:2015-05 微光束分析帶半導體探測器能量發散X射線分光儀的儀器規范
DIN ISO 15632 E:2022-03 微光束分析帶半導體探測器能量發散X射線分光儀的儀器規范