YB/T 172-2000
硅磚定量相分析.X射線衍射法
Phase quantitative analysis of silica bricks.X-ray diffraction method
YBT172-2000, YB172-2000
2021-04
- 標準號
- YB/T 172-2000
- 別名
- YBT172-2000, YB172-2000
- 發布
- 2000年
- 發布單位
- 行業標準-黑色冶金
- 替代標準
- YB/T 172-2020
- 當前最新
- YB/T 172-2020
YB/T 172-2000相似標準
推薦
《多晶X射線衍射技術與應用》-33（第8章 X射線衍射物相定量分析）
172—2000 《硅磚定量相分析?X射線衍射法》SH/T 0340—92 《NaY分子篩結晶度測定法》SH/T 0625—95(2004確認) 《硅鋁催化劑中γ-Al2O3含量測定法(X射線衍射法)》SY/T 5983—94(2002確認)?《伊利石蒙皂石間層礦物X射線衍射鑒定方法》SY/T 5163—95 《沉積巖粘土礦物相對含量X射線衍射分析方法》SY/T 6210—96 《沉積巖中粘土礦物總量和常見非粘土礦物...
【華恒儀表冠名】430項行業標準報批公示 含多項儀器檢測標準
25?YB/T 172-2020硅磚定量相分析 ?X射線衍射法????本標準規定了硅磚中α-石英定量相分析X射線衍射法的原理、儀器設備、標樣、試樣制備、標準曲線的建立、試驗步驟、結果與計算和試驗報告。????本標準適用于硅磚中α-石英的定量相分析，硅磚中鱗石英及方石英的定量相分析也可參考本標準。...
0451 X 射線衍射法（修訂）
本法適用于晶態樣品的成分與分子立體結構定量分析、手性分析、晶型分 析、結晶水含量分析、結晶溶劑種類與含量分析等。儀器校準：儀器應定期使用儀器生產廠家自帶的標準樣品進行儀器校正。第二法 粉末 X 射線衍射法粉末 X 射線衍射法可用于樣品定性或定量的物相分析。...
#測試專欄# 電子衍射物相分析
③用X射線衍射法，分析X射線衍射峰的相關規律，初步確定該合金可能出現的物相及晶體結構。④了解電子衍射強度相關知識，因為有關晶體的點對稱、微觀對稱及原子坐標的情況，都反映在晶體單胞對電子散射的結構因數中，而與記錄的衍射強度有關。電鏡拍攝過程中可以對第二相進行明場像和暗場像拍攝（圖1），此過程的目的是確定該套衍射花樣就是想要拍攝的第二相。...