單晶 表面
本專題涉及單晶 表面的標準有16條。
國際標準分類中，單晶 表面涉及到半導體材料、詞匯、金屬材料試驗、光學和光學測量、建筑物中的設施、光電子學、激光設備。
在中國標準分類中，單晶 表面涉及到化合物半導體材料、太陽能、金屬物理性能試驗方法、半金屬與半導體材料綜合、光電子器件綜合、計算機綜合、光學計量、、紅外器件、半金屬及半導體材料分析方法。
國家質檢總局，關于單晶 表面的標準
- GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法
- GB/T 1555-2023 半導體單晶晶向測定方法
- GB/T 1555-2009 半導體單晶晶向測定方法
- GB/T 29420-2012 摻釹釩酸鹽激光單晶元件
- GB/T 29421-2012 釩酸鹽雙折射光學單晶元件
- GB/T 26070-2010 化合物半導體拋光晶片亞表面損傷的反射差分譜測試方法
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于單晶 表面的標準
- GB/T 20230-2022 磷化銦單晶
- GB/T 20229-2022 磷化鎵單晶
- GB/T 20228-2021 砷化鎵單晶
河北省標準，關于單晶 表面的標準
- DB13/T 1314-2010 太陽能級單晶硅方棒、單晶硅片
行業標準-電子，關于單晶 表面的標準
- SJ/T 11504-2015 碳化硅單晶拋光片表面質量的測試方法
- SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測試方法
- SJ 20641-1997 紅外探測器用銻化銦單晶規范
未注明發布機構，關于單晶 表面的標準
- HJB 10342-2021 銻化鋼單晶拋光片規范
中國團體標準，關于單晶 表面的標準
- T/ZZB 0497-2018 聲表面波器件用單晶晶片
- T/IAWBS 010-2019 碳化硅單晶拋光片表面質量和微管密度檢測方法-激光散射檢測法
