GB/T 1555-2009
半導體單晶晶向測定方法
Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
GBT1555-2009, GB1555-2009
2024-03
- 標準號
- GB/T 1555-2009
- 別名
- GBT1555-2009, GB1555-2009
- 發布
- 2009年
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 替代標準
- GB/T 1555-2023
- 當前最新
- GB/T 1555-2023
- 引用標準
- GB/T 14264-2009 GB/T 2481.1-1998 GB/T 2481.2-2009
- 被代替標準
- GB/T 1555-1997
- 適用范圍
- 本標準規定了半導體單晶晶向X射線衍射定向和光圖定向的方法。 本標準適用于測定半導體單晶材料大致平行于低指數原子面的表面取向。