GB/T 1555-1997
半導體單晶晶向測定方法
Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
GBT1555-1997, GB1555-1997
2010-06
- 標準號
- GB/T 1555-1997
- 別名
- GBT1555-1997, GB1555-1997
- 發布
- 1997年
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 替代標準
- GB/T 1555-2009
- 當前最新
- GB/T 1555-2023
- 適用范圍
- 本標準規定了半導體單晶晶向X射線衍射定向和光圖定向的方法。 本標準適用于測定半導體單晶材料大致平行于低指數原子面的晶體的表面取向。 本標準包括兩種試驗方法： 方法A X射線衍射定向法。該方法可用于所有半導體單晶的定向。 方法B 光圖定向法。該方法目前用于單一元素半導體單晶的定向。