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    • GB/T 1555-2009
    半導體單晶晶向測定方法

    Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal

    GBT1555-2009, GB1555-2009


    GB/T 1555-2009 中，可能用到以下儀器設備

     

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    SAXS/WAXS/GISAXS 實驗室光束線裝置SAXSpoint 2.0

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    Rudolph AUTOPOL VI高精度旋光儀

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    XtaLABmini 臺式小分子單晶X射線分析儀

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    GB/T 1555-2009
    標準號
    GB/T 1555-2009
    別名
    GBT1555-2009
    GB1555-2009
    發布
    2009年
    發布單位
    國家質檢總局
    當前最新
    GB/T 1555-2009
     
     
    引用標準
    GB/T 14264-2009 GB/T 2481.1-1998 GB/T 2481.2-2009
    被代替標準
    GB/T 1555-1997
    本標準規定了半導體單晶晶向X射線衍射定向和光圖定向的方法。 本標準適用于測定半導體單晶材料大致平行于低指數原子面的表面取向。

    GB/T 1555-2009相似標準

    GB/T 34210-2017 藍寶石單晶晶向測定方法 GB/T 39137-2020 難熔金屬單晶晶向測定方法 SJ/T 11500-2015 碳化硅單晶晶向的測試方法 PN T01208-03-1992 半導體裝置．雙極晶體管．測量方法 DIN 50433-3:1982 半導體工藝材料的檢驗.第3部分:采用勞埃反向散射法測定單晶體取向

    GB/T 1555-2009 中可能用到的儀器設備

    X射線衍射儀(XRD) X射線散射儀 X射線(衍射)儀/能譜儀部件及外設 X射線定向儀 旋光儀 電鏡制樣設備 在線粒度儀/工業用顆粒度儀

    誰引用了GB/T 1555-2009 更多引用

    GB/T 41652-2022 刻蝕機用硅電極及硅環 GB/T 20230-2022 磷化銦單晶 GB/T 20229-2022 磷化鎵單晶 GB/T 40381-2021 激光窗口用藍寶石晶體板狀材料規范 GB/T 20228-2021 砷化鎵單晶 GB/T 39123-2020 X射線和γ射線探測器用碲鋅鎘單晶材料規范 GB/T 11094-2020 水平法砷化鎵單晶及切割片 YS/T 1167-2016 硅單晶腐蝕片 GB/T 32279-2015 硅片訂貨單格式輸入規范 JC/T 2343-2015 導模法制備單晶三氧化二鋁管


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