表面態 分析
本專題涉及表面態 分析的標準有184條。
國際標準分類中，表面態 分析涉及到分析化學、詞匯、信息技術應用、聲學和聲學測量、化工產品、化工設備、道路工程、粒度分析、篩分、煙草、煙草制品和煙草工業設備、糖、糖制品、淀粉、太陽能工程、長度和角度測量。
在中國標準分類中，表面態 分析涉及到物理學與力學、基礎標準與通用方法、化學助劑、投影器、幻燈機、化學、表面活性劑基礎標準與通用方法、物性分析儀器、化工專用儀器儀表、加工專用設備、計算機應用、、公路工程、制煙機械、太陽能。
美國給水工程協會，關于表面態 分析的標準
- AWWA MTC69697 有機超濾膜的形態分析：表面形態和孔徑分布
- AWWA WQTC58872 使用動態數字圖像分析進行顆粒表征
國際標準化組織，關于表面態 分析的標準
- ISO 22048:2004 表面化學分析——靜態二次離子質譜信息格式
- ISO/DIS 20579-2:2024 表面化學分析
- ISO/CD 24237:2023 表面化學分析
- ISO/CD 20289:2017 表面化學分析
- ISO/CD 20579-2:2023 表面化學分析
- ISO 18118:2022 表面化學分析
- ISO 18115:2001 表面化學分析 詞匯
- ISO 18117:2009 表面化學分析.樣品處理前分析
- ISO/CD 13473-4 利用表面輪廓表征路面結構 第4部分：表面輪廓的光譜分析
- ISO 17974:2002 表面化學分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學狀態分析用能量標度的校準
- ISO 14975:2000 表面化學分析 信息格式
- ISO/TS 13473-4:2008 表面外觀路面結構的特性.第4部分:表面輪廓的光譜分析
- ISO/TR 15969:2021 表面化學分析 - 深度分析 - 濺射深度的測量
- ISO/TR 14187:2020 表面化學分析 - 納米結構材料的表征
- ISO 18115-3:2022 表面化學分析.詞匯.第3部分:光學界面分析中使用的術語
- ISO/DIS 13473-4 利用表面輪廓表征路面結構 第4部分：表面輪廓的三分之一倍頻程光譜分析
- ISO 20289:2018 表面化學分析.水的全反射X射線熒光分析
- ISO 10810:2019 表面化學分析 - X射線光電子能譜分析指南
- ISO 18115:2001/Amd 2:2007 表面化學分析.詞匯.修改件2
- ISO 18115:2001/Amd 1:2006 表面化學分析.詞匯.修改件1
- ISO 14976:1998 表面化學分析 數據傳輸格式
- ISO 10810:2010 表面化學分析.X射線光電子能譜學.分析導則
- ISO 18116:2005 表面化學分析.分析用試樣的制備和裝配指南
韓國科技標準局，關于表面態 分析的標準
- KS D ISO 22048-2020 表面化學分析靜態二次離子質譜的信息格式
- KS D ISO 22048-2005(2020) 表面化學分析 - 靜態二次離子質譜的信息格式
- KS D ISO 22048:2005 表面化學分析.靜態次生離子質譜法的信息格式
- KS D ISO 17974-2021 表面化學分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學態分析能級的校準
- KS D ISO 18115-2021 表面化學分析 詞匯
- KS D ISO 18115:2006 表面化學分析.詞匯
- KS D ISO 18115-2006(2021) 表面化學分析詞匯
- KS D ISO 18115-2006(2016) 表面化學分析詞匯
- KS D ISO 17974-2011(2021) 表面化學分析——高分辨率俄歇電子光譜儀——元素和化學狀態分析用能標的校準
- KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化學分析高分辨率俄歇電子能譜儀元素和化學狀態分析用能標的校準
- KS D ISO 17974:2011 表面化學分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學狀態分析用能量標度的校準
- KS D ISO 14975-2011(2016) 表面化學分析信息格式
- KS D ISO 14975-2021 表面化學分析 信息格式
- KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化學分析-全反射X-射線熒光分析儀測定硅片表面元素雜質
- KS D ISO 14975:2011 表面化學分析.信息格式
- KS D ISO 14975-2011(2021) 表面化學分析信息格式
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化學分析-全反射X射線熒光分析儀測定硅晶片表面元素雜質
- KS D ISO TR 15969-2021 表面化學分析 深度分析 濺射深度測量
- KS C IEC 61725-2020 每日太陽剖面的分析表達式
- KS D ISO 14976:2011 表面化學分析.數據傳輸格式
- KS D ISO TR 15969-2011(2021) 表面化學分析深度剖面濺射深度測量
- KS D ISO 14976-2011(2016) 表面化學分析數據傳輸格式
- KS C IEC 61725-2005(2020) 日常太陽能剖面分析表達式
- KS D ISO 14976-2011(2021) 表面化學分析數據傳輸格式
- KS D ISO TR 15969-2011(2016) 表面化學分析深度剖面測量濺射深度
- KS D ISO 14976-2021 表面化學分析 數據傳輸格式
阿曼規格和計量局，關于表面態 分析的標準
- OS GSO ISO 22048:2013 表面化學分析靜態二次離子質譜的信息格式
- OS GSO ISO 17974:2014 表面化學分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學態分析能級的校準
- OS GSO ISO/TS 13473-4:2014 使用表面輪廓表征路面紋理 第4部分：表面輪廓的光譜分析
- OS GSO ISO/TR 14187:2013 表面化學分析 納米結構材料的表征
- OS GSO ISO 10810:2013 表面化學分析X射線光電子能譜分析指南
- OS GSO ISO 18116:2008 表面化學分析 分析樣品的制備和安裝指南
- OS GSO ISO/TR 15969:2013 表面化學分析 深度剖析 濺射深度測量
- OS GSO ISO 14976:2013 表面化學分析 數據傳輸格式
- OS GSO IEC 61725:2014 每日太陽剖面的分析表達式
海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關于表面態 分析的標準
- GSO ISO 22048:2013 表面化學分析靜態二次離子質譜的信息格式
- GSO ISO 14976:2013 表面化學分析 數據傳輸表
- GSO ISO 18117:2013 表面化學分析 分析前樣品的處理
- GSO ISO/TS 13473-4:2014 使用表面輪廓表示路面結構 第4部分：表面輪廓的光譜分析
- GSO ISO 14975:2013 表面化學分析 數據模型
- GSO ISO/TR 14187:2013 表面化學分析 納米結構材料的表征
- GSO ISO/TR 15969:2013 表面化學分析 深度剖析 濺射深度測量
- GSO ISO 10810:2013 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析說明
- GSO ISO 18116:2008 表面化學分析 分析樣品的制備和安裝指南
英國標準學會，關于表面態 分析的標準
- BS ISO 22048:2004 表面化學分析 靜態二次離子質譜的信息格式
- BS ISO 22048:2004(2005) 表面化學分析靜態二次離子質譜的信息格式
- BS ISO 22048:2005 表面化學分析.靜態次生離子質譜法的信息格式
- BS ISO 13424:2013 表面化學分析.X射線光譜.薄膜分析報表
- BS ISO 17974:2002(2010) 表面化學分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學態分析能級的校準
- BS ISO 18115:2001 表面化學分析 詞匯
- BS ISO 18115:2001+A2:2007 表面化學分析 詞匯
- BS ISO 18117:2009 表面化學分析.分析前樣品的處理
- BS ISO 18117:2009(2015) 表面化學分析——分析前樣品的處理
- BS ISO 18115-3:2022 表面化學分析 詞匯 光學界面分析中使用的術語
- BS ISO 17974:2002 表面化學分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學狀態分析用能量標度的校準
- BS ISO 14975:2000 表面化學分析.信息格式
- BS ISO 14975:2000(2012) 表面化學分析——信息格式
- BS ISO 14975:2001 表面化學分析 信息格式
- BS ISO 9276-6:2008 粒度分析結果的表示.顆粒形態和形態學的定性和定量表示
- BS ISO 13473-4:2024 使用表面輪廓表征路面紋理 表面輪廓的三分之一倍頻程光譜分析
- 07/30172470 DC BS ISO 18117 表面化學分析 分析前的樣本處理
- BS ISO 20411:2018 表面化學分析 二次離子質譜分析 單離子計數動態二次離子質譜飽和強度校正方法
- BS PD ISO/TR 14187:2011 表面化學分析 納米結構材料的表征
- BS 6829-0:1989 表面活性劑（原料）分析 概述
- PD ISO/TR 14187:2020 表面化學分析 納米結構材料的表征
- BS 6829-0:1987 表面活性劑（原料）分析 概述
- BS PD ISO/TR 14187:2020 表面化學分析 納米結構材料的表征
- BS ISO 10810:2019 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南
- PD ISO/TS 15338:2020 表面化學分析 輝光放電質譜分析 運營流程
- BS ISO 20289:2018 表面化學分析 水的全反射X射線熒光分析
- BS PD ISO/TS 15338:2020 表面化學分析 輝光放電質譜分析 運營流程
- DD ISO/TS 13473-4:2008 使用表面輪廓表征路面紋理 紋理輪廓的光譜分析
- BS ISO 14976:1998 表面化學分析.數據傳送格式
- BS ISO 14976:1998(2000) 表面化學分析——數據傳輸格式
- BS EN 61725:1997 每日太陽剖面的分析表達式
- PD ISO/TR 15969:2021 表面化學分析 深度剖析 濺射深度的測量
- BS ISO 18116:2005 表面化學分析.分析用試樣的制備和裝配指南
- BS ISO 10810:2010 表面化學分析.X射線光電子能譜法.分析指南
- BS DD ISO/TR 15969:2001 表面化學分析.深度剖面.濺蝕深度的測量
- DD ISO/TR 15969:2001 表面化學分析.深度剖面.濺涂深度的測量
國家質檢總局，關于表面態 分析的標準
- GB/T 13592-1992 表面分析術語
- GB/T 29731-2013 表面化學分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學態分析用能量標校準
- GB/T 22461-2008 表面化學分析.詞匯
- GB/T 28894-2012 表面化學分析.分析前樣品的處理
- GB/T 42415-2023 表面活性劑 靜態表面張力的測定
- GB/T 21007-2007 表面化學分析 信息格式
- GB/T 30815-2014 表面化學分析 分析樣品的制備和安裝方法指南
- GB/T 33498-2017 表面化學分析 納米結構材料表征
- GB/T 30704-2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南
- GB/T 29557-2013 表面化學分析 深度剖析 濺射深度測量
- GB/T 19499-2004 表面化學分析 數據傳輸格式
美國材料與試驗協會，關于表面態 分析的標準
- ASTM STP 699-1980 應用表面分析
- ASTM STP 643-1978(1986) 定量表面分析技術
- ASTM E3149-18 用于形態分析的面部圖像比較特征列表的標準指南
- ASTM STP 1402-2001 材料動態和調幅熱分析技術表征
- ASTM STP 1466-2007 熱分析技術：連接技術 表面熱分析和快速率分析
- ASTM STP 596-1976 冶金應用的表面分析技術
- ASTM E673-01 與表面分析相關的標準術語
- ASTM E673-02b 與表面分析相關的標準術語
- ASTM E673-02a 與表面分析相關的標準術語
- ASTM E673-03 與表面分析相關的標準術語
- ASTM E673-98E1 與表面分析相關的標準術語
- ASTM E673-02 與表面分析相關的標準術語
巴林國家計量局，關于表面態 分析的標準
- BH GSO ISO 22048:2016 表面化學分析靜態二次離子質譜的信息格式
- BH GSO ISO 17974:2016 表面化學分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學態分析能級的校準
- BH GSO ISO 18117:2016 表面化學分析 分析前樣品的處理
- BH GSO ISO 14975:2016 表面化學分析 信息格式
- BH GSO ISO/TR 15969:2016 表面化學分析 深度剖析 濺射深度測量
- BH GSO ISO 10810:2016 表面化學分析X射線光電子能譜分析指南
- BH GSO IEC 61725:2016 每日太陽剖面的分析表達式
日本工業標準調查會，關于表面態 分析的標準
- JIS K 0168:2011 表面化學分析.靜態二次離子質譜法用信息格式
- JIS K 0147:2004 表面化學分析.詞匯
- JIS K 0142:2000 表面化學分析.信息格式
- JIS K 0166:2011 表面化學分析.高分辨率螺旋電子光譜儀.元素和化學狀態分析用能量標度的校準
- JIS K 0181:2021 表面化學分析 水的全反射X射線熒光分析
- JIS K 0154:2017 表面化學分析. 分析用試樣制備和安裝指南
- JIS K 0141:2000 表面化學分析.數據傳送格式
BE-NBN，關于表面態 分析的標準
- NBN 88-02-1968 表面狀態
RO-ASRO，關于表面態 分析的標準
- STAS 11195-1987 表面劑分析方法
- SR 110-9-1995 糖．分析方法．測定表面質量
AT-ON，關于表面態 分析的標準
- ONORM M 1113-1982 技術曲面．表面分析方法
YU-JUS，關于表面態 分析的標準
- JUS H.E0.005-1979 表面活性劑．詞匯．分析列表
美國國防后勤局，關于表面態 分析的標準
- DLA A-A-50767-1983 表面光潔度分析儀
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 2-2001 表面光潔度分析儀
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 3-2006 表面光潔度分析儀
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 1-1995 表面光潔度分析儀
澳大利亞標準協會，關于表面態 分析的標準
- AS ISO 18115:2006 表面化學分析．詞匯
- AS ISO 14975:2006 表面化學分析．信息格式
- AS ISO 17974:2006(R2016) 表面化學分析 高分辨率俄歇電子分光計法 元素及化學物質狀態分析用能量標度校準
- AS ISO 17974:2006 表面化學分析．高分辨率俄歇電子分光計法．元素及化學物質狀態分析用能量標度校準
- AS ISO 18116:2006 表面化學分析．分析用樣本的準備和安裝導則
- AS ISO 14976:2006 表面化學分析．數據傳送格式
- AS ISO 18116:2006(R2016) 表面化學分析 分析用樣本的準備和安裝導則
德國標準化學會，關于表面態 分析的標準
- DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 使用表面輪廓表征路面紋理 第4部分：表面輪廓的光譜分析
- DIN ISO/TS 13473-4:2009 通過使用表面輪廓表征路面結構.第4部分:表面輪廓的光譜分析
法國標準化協會，關于表面態 分析的標準
- NF ISO 18117:2009 表面化學分析 分析前樣品的處理
- NF EN 16637-2:2023 建筑產品 危險物質重新評估 第2部分：表面水平浸出動態分析
- NF X21-065*NF ISO 18117:2009 表面化學分析 優先分析樣本的處理
- NF ISO 17974:2009 表面化學分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 用于元素和化學狀態分析的能量標度校準
- NF X21-067*NF ISO 17974:2009 表面化學分析.高分辨率俄歇(Auger)電子分光計.元素及化學物質狀態分析用能量標度的校準
- NF ISO 18116:2006 表面化學分析 分析樣品的制備和安裝指南
- NF X21-052/A2:2008 表面化學分析.詞匯.修改件2
- NF X21-052/A1:2008 表面化學分析.詞匯.修改件1
- NF ISO 13473-4:2024 利用 表面 輪廓 表征 路面 紋理 第4部分 : 表面 輪廓 的 三分之一 倍頻程 光譜分析
- NF E05-021:1997 幾何學產品規范(GPS).表面狀態:斷面法.表面具有分層的功能特性.第1部分:過濾及一般測量狀態
- NF X21-056*NF ISO 18116:2006 表面化學分析 分析用試樣的制備和裝配指南
(美國)軍事條例和規范，關于表面態 分析的標準
- ARMY UFGS-06 61 16-2009 固態聚合物(固態表面)制造
行業標準-化工，關于表面態 分析的標準
- HG/T 6138-2023 比表面積及孔徑分析儀
(美國)固態技術協會,隸屬EIA，關于表面態 分析的標準
- JEDEC JEP179-2006 組裝的固態表面貼裝元件的測試驅使鑒定和故障機理分析
- JEDEC JEP150-2005 組裝的固態表面貼裝元件的測試驅使鑒定和故障機理分析
中國團體標準，關于表面態 分析的標準
- T/ZSA 110-2022 比表面積及孔徑分析儀
行業標準-煙草，關于表面態 分析的標準
- YC/T 271.8-2008 煙草機械.形態設計 第8部分:表面保護和表面處理
丹麥標準化協會，關于表面態 分析的標準
- DANSK DS/ISO 13473-4:2024 利用表面輪廓表征路面紋理 第4部分：表面輪廓的三分之一倍頻程光譜分析
ET-QSAE，關于表面態 分析的標準
- ES 515-2000 表面活性劑——洗滌劑——定性分析
西班牙標準化協會，關于表面態 分析的標準
- AENOR UNE-EN 61725:1998 每日太陽剖面的分析表達式
- UNE-EN 61725:1998 每日太陽剖面的分析表達式
意大利統一標準化組織，關于表面態 分析的標準
- UNI EN ISO 4287:2002 幾何產品規范（GPS） 表面狀態：輪廓法 表面狀態的術語、定義和參數
- UNI 4600:1983 技術圖紙 表面狀態指示.
ES-AENOR，關于表面態 分析的標準
- INTA 12 01 03 輕合金表面狀態的指定
