ASTM STP 643-1978(1986)
定量表面分析技術
Quantitative surface analysis techniques
- 標準號
- ASTM STP 643-1978(1986)
- 發布
- 1986年
- 總頁數
- 219頁
- 發布單位
- 美國材料與試驗協會
- 當前最新
- ASTM STP 643-19
-
標準名稱：定量表面分析技術
適用范圍：
本出版物涵蓋了使用電子光譜法進行的定量表面分析的基礎，包括 Auger 電子能譜和 X 射線光電子能譜。討論了不同方法如二次離子質譜、電子能譜等在合金與薄膜分析中的應用。
內容小結：本出版物主要探討了使用電子光譜法進行定量表面分析的技術基礎，包括 Auger 電子能譜和 X 射線光電子能譜的物理原理。此外，還討論了這些方法在不同材料（如金屬合金、薄層薄膜等）中的應用，并展示了具體的實例研究。
ASTM STP 643-1978(1986) 中提到的儀器設備
| Auger電子能譜儀 | 用于檢測材料表面元素分布和化學態的高靈敏度儀器 |
| X射線光電子能譜儀 | 提供材料表面元素及其化學狀態信息的深度分析儀器 |
專題
ASTM STP 643-1978(1986)相似標準
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