GSO ISO/TR 14187:2013
表面化學分析 納米結構材料的表征

Surface chemical analysis -- Characterization of nanostructured materials

標準號

GSO ISO/TR 14187:2013

發布

2013年

發布單位

GSO

當前最新

GSO ISO/TR 14187:2013

 

 

適用范圍

本技術報告介紹了（并提供了一些示例）使用表面分析工具可以獲得的有關納米結構材料的信息類型（第 4 節）。同樣重要的是，報告還確定了表征納米結構材料時遇到的一般問題或挑戰以及與單個方法相關的特定機會或挑戰（第 5 節）。隨著物體或材料成分的尺寸接近幾個納米，“本體”、“表面”和“顆粒”分析之間的區別變得模糊。雖然報告確定了一些與納米結構材料表征相關的一般問題，但本技術報告重點關注與納米結構材料表面化學分析特別相關的問題。報告將提到各種分析和表征方法，但本報告重點關注 ISO/TC 201 領域的方法，包括俄歇電子能譜、X 射線光電子能譜、二次離子質譜和掃描探針顯微鏡。本報告未討論通常在溶液中進行的某些類型的納米顆粒表面特性測量，例如表面電位。盡管納米厚度的薄膜或均勻的納米尺寸粒子集合具有許多相似之處，但表征納米厚度的薄膜或均勻的納米尺寸粒子集合卻面臨著不同的表征挑戰。本文介紹了適用于薄膜和粒子或納米尺寸物體的方法示例。可以確定的屬性包括：污染的存在、涂層的厚度以及處理前后表面的化學性質。除了確定可以獲得的信息類型外，技術報告還總結了在分析之前或分析過程中必須考慮的一般問題和技術特定問題。這些包括：所需信息的識別、穩定性和探針效應、環境影響、樣品處理問題和數據解釋。表面表征是納米結構材料多種分析需求的重要子集。納米材料的更廣泛表征需求屬于 ISO/TC 229 的范圍，本報告已與 TC 229 聯合工作組 (JWG) 3 的專家協調。本文介紹了使用一組特定的表面分析方法獲得的有關納米材料的信息，但本質上不可能完全完整。然而，已經確定了重要的機會、概念和問題，并提供了許多參考資料，以便根據需要更深入地研究這些主題。

專題

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