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近年來國內外對于材料表面問題的研究非常活躍。材料表面深度剖面分析方法不僅能像均質材料的分析方法那樣獲得表面元素含量的信息,而且能夠用來表征從表面到基體各元素成份的縱深分布情況。為了解當前材料表面深度剖面分析技術及發展狀況,文章從各類高能粒子入射樣品表面的分析機理入手,介紹了二次離子質譜法、俄歇電子能...
掃描電鏡是利用聚焦電子束進行微區樣品表面形貌和成分分析,電子從發射源(燈絲)經光路系統最終到達樣品表面,電子束直徑可到 10 nm 以下,場發射電鏡的聚集電子束直徑會更小。聚焦電子束到達樣品表面會激發出多種物理信號,包括二次電子(SE),背散射電子(BSE),俄歇電子(AE)、特征 X 射線...
》3. GB/T 29732—2013《表面化學分析 中等分辨率俄歇電子譜儀 元素分析用能量標校準》4. GB/T 29557—2013《表面化學分析 深度剖析 濺射深度測量》5. GB/T 28894—2012《表面化學分析 分析前樣品的處理》6. GB/T 19500—2004《X—射線光電子能譜...
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