x射線和俄歇電子
本專題涉及x射線和俄歇電子的標準有56條。
國際標準分類中，x射線和俄歇電子涉及到無損檢測、光學和光學測量、電子元器件綜合、分析化學、長度和角度測量、電學、磁學、電和磁的測量、光學設備、金屬材料試驗。
在中國標準分類中，x射線和俄歇電子涉及到基礎標準與通用方法、光學測試儀器、標準化、質量管理、質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯用裝置、電子光學與其他物理光學儀器、綜合測試系統、化學、金屬化學分析方法綜合。
英國標準學會，關于x射線和俄歇電子的標準
- BS ISO 21270:2005 表面化學分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強度標的線性度
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度線性度
- BS ISO 21270:2004 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度尺度的線性
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測定
- BS ISO 18516:2006 表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
- BS ISO 20903:2019 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
- BS ISO 20903:2011 表面化學分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學.測定峰強度的方法和報告結果要求的信息
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化學分析 深度剖析 使用單一和……的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜濺射深度分析中濺射速率測定方法
美國材料與試驗協會，關于x射線和俄歇電子的標準
- ASTM E996-10 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規程
- ASTM E995-16 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜背景減法技術標準指南
- ASTM E996-04 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規程
- ASTM E996-10(2018) 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數據報告的標準實施規程
- ASTM E996-19 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數據報告的標準實施規程
- ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數據報告的標準規程
- ASTM E995-11 在俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中應用背景消除技術的標準指南
- ASTM E1217-11 用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號樣品面積的標準操作規程
- ASTM E1217-00 用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號的樣品面積的標準實施規范
- ASTM E1217-05 用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號的樣品面積的標準實施規范
- ASTM E1217-11(2019) 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區域的標準實踐
行業標準-電子，關于x射線和俄歇電子的標準
- SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術和X射線光電子能譜術的樣品處理標準導則
韓國科技標準局，關于x射線和俄歇電子的標準
- KS D ISO 21270:2005 表面化學分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
- KS D ISO 21270-2020 表面化學分析 X射線光電子能譜和俄歇電子能譜儀 強度標度線性度
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標度的線性
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
- KS D ISO 19319:2005 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區域和樣品區域的目視檢測
- KS D ISO 19319-2020 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析儀觀察到的樣品面積的測定
- KS D ISO 18118-2020 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 均質材料定量分析中實驗確定的相對靈敏度因子的使用指南
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實驗測定的相對靈敏度因子的使用指南
國家質檢總局，關于x射線和俄歇電子的標準
- GB/T 21006-2007 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性
- GB/T 28632-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
- GB/T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應樣品區域的通則
- GB/T 28893-2024 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測定峰強度的方法和報告結果所需的信息
- GB/T 28893-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強度的方法和報告結果所需的信息
- GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則
國際標準化組織，關于x射線和俄歇電子的標準
- ISO 21270:2004 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
- ISO 18516:2006 表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
- ISO 20903:2011 表面化學分析.俄歇電子能普和X射線光電子光譜.通報結果所需峰值強度和信息的測定方法
- ISO 20903:2019 表面化學分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
- ISO 17109:2022 表面化學分析.深度剖面.用單層和多層薄膜在X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中測定濺射速率的方法
- ISO/TR 19319:2003 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區域和樣品區域的目視檢測
- ISO 18118:2024 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實驗確定的相對靈敏度因子的使用指南
GSO，關于x射線和俄歇電子的標準
- BH GSO ISO 21270:2016 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- GSO ISO 21270:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- OS GSO ISO 21270:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- OS GSO ISO 18516:2013 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- BH GSO ISO 18516:2016 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- GSO ISO 18516:2013 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- BH GSO ISO 20903:2016 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰強度和報告結果時所需信息的方法
SCC，關于x射線和俄歇電子的標準
- BS PD ISO/TR 19319:2003 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
- BS ISO 20903:2006 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線和俄歇電子的標準
- GB/T 35158-2017 俄歇電子能譜儀檢定方法
法國標準化協會，關于x射線和俄歇電子的標準
- NF X21-058:2006 表面化學分析.俄歇電子能譜學和X射線光電子光譜法.測定峰強度使用的方法和報告結果時需要的信息
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線和俄歇電子的標準
- GB/T 36504-2018 印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜
- GB/T 41064-2021 表面化學分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中深度剖析濺射速率的方法
日本工業標準調查會，關于x射線和俄歇電子的標準
- JIS K 0167:2011 表面化學分析 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學 勻質材料定量分析用實驗室測定相對敏感因子的使用指南
行業標準-機械，關于x射線和俄歇電子的標準
- JB/T 6976-1993 俄歇電子能譜術元素鑒定方法
