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  • KS D ISO 19319-2005(2020)
    表面化學分析-俄歇電子能譜和X射線光電子能譜-分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定

    Surface chemical analysis-Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy-Determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyzer


    標準號
    KS D ISO 19319-2005(2020)
    發布
    2005年
    發布單位
    韓國科技標準局
    當前最新
    KS D ISO 19319-2005(2020)
     
     

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