KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定儀器譜

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標準號: KS D ISO 19319-2005(2020)
發布: 2005年
發布單位: 韓國科技標準局
當前最新: KS D ISO 19319-2005(2020)

KS D ISO 19319-2005(2020)
表面化學分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定

Surface chemical analysis－Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy－Determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyzer

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