除了主要優點外,掃描電子顯微鏡還被證明是一種通用平臺,可增加簡單成像以外的功能。?可以用場發射槍(FEG)替代或補充熱電子槍,這樣可以大幅提高SEM的空間分辨率。 SEM可以配備聚焦離子束(FIB)功能,從而進行離子束研磨和沉積。 能量色散X射線光譜儀(EDS或EDX)允許用戶使用電子束撞擊樣品時產生的X射線分析樣品的化學成分。 通過在腔室添加探針,用戶可以分析樣品的導電率。...
它具有高分辨率和靈敏度,在科學研究中擁有公認的特殊性能,成為一款領先的分析工具,普遍適用于聚合物合成,材料科學和生物高分子領域研究。 日本電子? JMS-S3000 InTouch Scope SEM 日本電子InTouchScope可移動掃描電鏡提供的成像和分析結果觸手可及,無線功能和一個渦輪泵使之成為一個真正獨立的掃描電子顯微鏡,不受使用地點限制。...
IXRF公司SDD電制冷能譜儀安裝在日立SU3500掃描電鏡 基于EDS和XRF的優缺點,IXRF公司將微型X射線管改進,安裝到SEM上(兼容任何型號的掃描電鏡),利用能譜儀的探頭接收信號,使得樣品在掃描電鏡中既可做EDS分析,又可做XRF分析。這兩種技術能夠單獨使用,也能夠通過能譜依次采集電子束和X射線激發信息,將兩種技術整合,實現優勢互補。...
HS-SPME-GC-MS風味物質分析電鏡測試掃描電子顯微鏡SEM材料形貌,組織觀察透射電子顯微鏡TEM觀察納米粒子的形貌、評估納米粒子的粒徑SEM-EDS聯用測定儀SEM-EDS材料形貌,組織觀察元素定性半定量分析,針對粉末或者比較小的固體樣品,可以進行點、線、面掃描測試熱譜測試熱重分析儀TGA化合物的分解溫度,有機物組分含量,灰分含量。...
Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證:京ICP證110310號